[发明专利]芯片错误注入测试中的触发参数调整系统及方法有效
| 申请号： | 201710761290.5 | 申请日： | 2017-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN107506664B | 公开（公告）日： | 2019-11-12 |
| 发明（设计）人： | 张城;李秘;张永峰;马哲;孙衍琪;渠韶光;张炼;孟飞宇;张志波;杨子砚;鲍岩;李超 | 申请（专利权）人： | 北京银联金卡科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F21/72 | 分类号： | G06F21/72;G06F11/263 |
| 代理公司： | 北京北新智诚知识产权代理有限公司 11100 | 代理人： | 朱丽华 |
| 地址： | 100070 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种芯片错误注入测试中的触发参数调整系统及方法，在上位机与待测芯片的通信过程中，采集待测芯片的能量迹数据，根据能量迹数据判断其中是否包含时域防护，若否，则采用固定触发方式；若是，寻找触发位置之前的能量迹简单特征，若能量迹简单特征与触发位置的相对时间固定，则以该相对时间为触发时间输出触发信号；若未找到能量迹简单特征或能量迹简单特征与触发位置的相对时间不固定，则设定特征能量迹，将特征能量迹与待测能量迹进行匹配，匹配后，确定触发时间，在该触发时间触发干扰源。本发明能够根据能量迹数据中是否包含时域防护确定触发方式，在测试过程中自动调整触发参数，提升测试工作效率，保证测试结果的准确性、有效性。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 错误 注入 测试 中的 触发 参数 调整 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.芯片错误注入测试中的触发参数调整系统，其特征在于，包括：上位机、能量迹采集模块、触发参数分析模块，能量迹采集模块，用于采集待测芯片的能量迹数据，并将能量迹数据传输至上位机、触发参数分析模块；上位机，根据获取的能量迹数据，判断其中是否包含时域防护，向触发参数分析模块发送触发时间控制数据；触发参数分析模块，根据能量迹数据、触发时间控制数据，于特定的触发时间触发干扰源。
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