[发明专利]复合结构的无损检查和性能预测方法、超声波成像系统及校准方法有效

专利信息
申请号: 201710762645.2 申请日: 2017-08-29
公开(公告)号: CN108008013B 公开(公告)日: 2022-08-23
发明(设计)人: 加里·E·乔治森;吉尔·P·宾厄姆;宏·辉·泰;元-杰·吴;约翰·M·普赖尔;萨迪·L·菲耶尼;马克·D·温特斯;凯瑟琳·T·穆尔;詹姆斯·C·肯尼迪;克莱顿·M·利特尔;约翰·Z·林 申请(专利权)人: 波音公司
主分类号: G01N29/06 分类号: G01N29/06;G01N25/72
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 陈鹏;瞿艺
地址: 美国伊*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 提供了用于复合结构的无损检查和性能预测的方法、超声波成像系统及用于校准超声波检查系统的方法。根据一些实施例,该方法结合了B型扫描超声波数据的使用、褶皱和横截面的几何形状的自动光学测量、以及带有褶皱的复合结构的有限元分析,以提供评估检测到的褶皱相对于结构的预期性能的实际意义的能力。所公开的方法使用超声波检查系统,已经通过使从参考标准获得的超声波B扫描数据与那些参考标准的光学横截面(例如显微照片)的测量结果互相关联来校准超声波检查系统。
搜索关键词: 复合 结构 无损 检查 性能 预测 方法 超声波 成像 系统 校准
【主权项】:
1.一种用于校准超声波检查系统(10)的方法,包括:(a)形成由复合材料形成的多个参考标准,每个参考标准具有至少一个褶皱(152);(b)使用超声波检查系统从所述多个参考标准中收集超声波B型扫描数据(38、40、42)(154);(c)切割所述参考标准以暴露横截面(154);(d)使所暴露的横截面成像以产生光学横截面(170);(e)测量出现在所述光学横截面中的每个参考标准的至少一个褶皱的特征以获得光学横截面测量数据(302)(172);以及(f)使所述超声波B型扫描数据与所述光学横截面测量数据互相关联(156)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于波音公司,未经波音公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710762645.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top