[发明专利]刻蚀方法、工艺设备、薄膜晶体管器件及其制造方法有效
申请号: | 201710771004.3 | 申请日: | 2017-08-31 |
公开(公告)号: | CN107564803B | 公开(公告)日: | 2020-04-17 |
发明(设计)人: | 杜生平;苏同上;黄正峰;杨玉;张旺;王磊;马云;刘丽华;刘广东;郭稳 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;合肥鑫晟光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/027 | 分类号: | H01L21/027;H01L21/28;H01L21/311;H01L29/66 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人: | 滕一斌 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种刻蚀方法、工艺设备、薄膜晶体管器件及其制造方法,属于半导体制造领域。所述刻蚀方法包括:在待刻蚀材料的表面上形成光刻胶层,光刻胶层具有的开口限定出待刻蚀材料的表面上的待刻蚀区域;采用能使光刻胶层固化的等离子体对光刻胶层进行固化处理;采用与待刻蚀材料对应的刻蚀液对待刻蚀区域内的待刻蚀材料进行刻蚀。本发明将常用于干法刻蚀的等离子体工艺创新地运用在了湿法刻蚀当中,并反过来利用了干法刻蚀中光刻胶容易在接触等离子体后发生变性而难以被剥离的缺点,在刻蚀液与待刻蚀材料反应之前利用等离子体增强光刻胶层与待刻蚀材料之间的接触,解决了由此而引发的钻刻问题,有助于提升产品良率和产品性能。 | ||
搜索关键词: | 刻蚀 方法 工艺设备 薄膜晶体管 器件 及其 制造 | ||
【主权项】:
一种刻蚀方法,其特征在于,包括:在待刻蚀材料的表面上形成光刻胶层,所述光刻胶层具有的开口限定出所述待刻蚀材料的表面上的待刻蚀区域;采用能使所述光刻胶层固化的等离子体对所述光刻胶层进行固化处理;采用与所述待刻蚀材料对应的刻蚀液对所述待刻蚀区域内的待刻蚀材料进行刻蚀。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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