[发明专利]探针组件及测试设备在审
| 申请号： | 201710772012.X | 申请日： | 2017-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN107402318A | 公开（公告）日： | 2017-11-28 |
| 发明（设计）人： | 程丕建;薛静;邢红燕;尹岩岩;谷玥;宋玉冰 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司11243 | 代理人： | 许静,刘伟 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种探针组件，用于电学测试设备，包括探针本体，所述探针本体包括用于与待测试器件连接的测试端，以及与所述测试端相对的连接端；固定基座，所述连接端通过一弹性连接结构固定连接于所述固定基座上。本发明还涉及一种测试设备。本发明的有益效果是弹性连接结构的设置起到缓冲作用，弹性连接结构形变承担了探针与待测试器件接触时的力，避免探针与待测试器件接触探针本身形变对探针的损伤，且避免了对待测试器件的损伤。 | ||
| 搜索关键词： | 探针 组件 测试 设备 | ||
【主权项】：
一种探针组件，用于电学测试设备，其特征在于，包括探针本体，所述探针本体包括用于与待测试器件连接的测试端，以及与所述测试端相对的连接端；固定基座，所述连接端通过一弹性连接结构固定连接于所述固定基座上。
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