[发明专利]低损低介电材料的测量方法及测量系统有效

专利信息
申请号: 201710772731.1 申请日: 2017-08-31
公开(公告)号: CN107643450B 公开(公告)日: 2019-11-26
发明(设计)人: 徐浩;梁伟军;高秋来 申请(专利权)人: 中国计量科学研究院
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26;G01R33/12
代理公司: 11228 北京汇泽知识产权代理有限公司 代理人: 张瑾<国际申请>=<国际公布>=<进入国
地址: 100013 北京市朝阳*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供的低损低介电材料的测量方法及测量系统,利用射频或毫米波双通道衰减测量系统能够测量被测材料相移的优势,通过调整源反射系数和负载反射系数,使源反射系数和负载反射系数的一系列值分别形成一个等幅度的矢量圆,再通过求解圆心,计算出被测低损低介电材料的传输系数和反射系数,最终通过NRW(Nicolson–Ross–Weir)公式计算得到被测材料的介电系数和/或磁导率。本发明能够提高介电系数和磁导率测量结果的准确度。
搜索关键词: 低损低介电 材料 测量方法 测量 系统
【主权项】:
1.一种低损低介电材料的测量方法,其特征在于,该方法包括:/n在源端调配器及负载端调配器之间未置入被测材料的条件下:/n将源端调配器及负载端调配器的反射系数均置为0并保持不变,测量得到传输参数TNull|Γg0,ΓL0;/n将负载端调配器的反射系数置为0并保持不变,将源端调配器反射系数置为模值固定为第一模值,相位在圆周内等间隔分布的N个矢量,测量得到N个传输参数TNull|Γgi,ΓL0;/n将源端调配器的反射系数置为0并保持不变,将负载端调配器反射系数置为模值固定为第二模值,相位在圆周内等间隔分布的N个矢量,测量得到N个传输参数TNull|Γg0,ΓLi;/n在源端调配器及负载端调配器之间置入被测材料的条件下:/n将源端调配器和负载端调配器的反射系数均置为0并保持不变,测量得到传输参数T’D|Γg0,ΓL0;/n将负载端调配器的反射系数置为0并保持不变,将源端调配器反射系数置为模值固定为第一模值,相位在圆周内等间隔分布的N个矢量,测量得到对应的N个传输参数T’D|Γgi,ΓL0;/n将源端调配器的反射系数置为0并保持不变,将负载端调配器反射系数置为模值固定为第二模值,相位在圆周内等间隔分布的N个矢量,测量得到对应的N个传输参数T’D|Γg0,ΓLi;/n基于传输参数的计算公式计算得到在源端调配器和负载端调配器的反射系数均被置为0条件下的传输参数TD0;/n基于传输参数的计算公式计算在负载端调配器的反射系数被置为0并保持不变且源端调配器反射系数的模值固定为第一模值,相位在圆周内等间隔分布的N个矢量条件下的传输参数TDgi|Γgi,ΓL0;/n基于传输参数的计算公式计算在源端调配器的反射系数置为0并保持不变且负载端调配器反射系数置为模值固定为第二模值,相位在圆周内等间隔分布的N个矢量条件下的传输参数TDLi|Γg0,ΓLi;/n计算由TDgi构成的矢量圆的圆心Rg;/n计算由TDLi构成的矢量圆的圆心RL;/n基于Rg、RL和TD0的关系计算得到被测材料的传输系数;/n基于TDgi、TDLi和TD0计算得到被测材料的反射系数;/n通过Nicolson–Ross–Weir公式,计算得出被测材料的介电系数和/或磁导率;/n其中,i为大于0小于等于N的正整数,N为大于等于4的偶数。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国计量科学研究院,未经中国计量科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710772731.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top