[发明专利]低损低介电材料的测量方法及测量系统有效
申请号: | 201710772731.1 | 申请日: | 2017-08-31 |
公开(公告)号: | CN107643450B | 公开(公告)日: | 2019-11-26 |
发明(设计)人: | 徐浩;梁伟军;高秋来 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26;G01R33/12 |
代理公司: | 11228 北京汇泽知识产权代理有限公司 | 代理人: | 张瑾<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
地址: | 100013 北京市朝阳*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供的低损低介电材料的测量方法及测量系统,利用射频或毫米波双通道衰减测量系统能够测量被测材料相移的优势,通过调整源反射系数和负载反射系数,使源反射系数和负载反射系数的一系列值分别形成一个等幅度的矢量圆,再通过求解圆心,计算出被测低损低介电材料的传输系数和反射系数,最终通过NRW(Nicolson–Ross–Weir)公式计算得到被测材料的介电系数和/或磁导率。本发明能够提高介电系数和磁导率测量结果的准确度。 | ||
搜索关键词: | 低损低介电 材料 测量方法 测量 系统 | ||
【主权项】:
1.一种低损低介电材料的测量方法,其特征在于,该方法包括:/n在源端调配器及负载端调配器之间未置入被测材料的条件下:/n将源端调配器及负载端调配器的反射系数均置为0并保持不变,测量得到传输参数TNull|Γg0,ΓL0;/n将负载端调配器的反射系数置为0并保持不变,将源端调配器反射系数置为模值固定为第一模值,相位在圆周内等间隔分布的N个矢量,测量得到N个传输参数TNull|Γgi,ΓL0;/n将源端调配器的反射系数置为0并保持不变,将负载端调配器反射系数置为模值固定为第二模值,相位在圆周内等间隔分布的N个矢量,测量得到N个传输参数TNull|Γg0,ΓLi;/n在源端调配器及负载端调配器之间置入被测材料的条件下:/n将源端调配器和负载端调配器的反射系数均置为0并保持不变,测量得到传输参数T’D|Γg0,ΓL0;/n将负载端调配器的反射系数置为0并保持不变,将源端调配器反射系数置为模值固定为第一模值,相位在圆周内等间隔分布的N个矢量,测量得到对应的N个传输参数T’D|Γgi,ΓL0;/n将源端调配器的反射系数置为0并保持不变,将负载端调配器反射系数置为模值固定为第二模值,相位在圆周内等间隔分布的N个矢量,测量得到对应的N个传输参数T’D|Γg0,ΓLi;/n基于传输参数的计算公式计算得到在源端调配器和负载端调配器的反射系数均被置为0条件下的传输参数TD0;/n基于传输参数的计算公式计算在负载端调配器的反射系数被置为0并保持不变且源端调配器反射系数的模值固定为第一模值,相位在圆周内等间隔分布的N个矢量条件下的传输参数TDgi|Γgi,ΓL0;/n基于传输参数的计算公式计算在源端调配器的反射系数置为0并保持不变且负载端调配器反射系数置为模值固定为第二模值,相位在圆周内等间隔分布的N个矢量条件下的传输参数TDLi|Γg0,ΓLi;/n计算由TDgi构成的矢量圆的圆心Rg;/n计算由TDLi构成的矢量圆的圆心RL;/n基于Rg、RL和TD0的关系计算得到被测材料的传输系数;/n基于TDgi、TDLi和TD0计算得到被测材料的反射系数;/n通过Nicolson–Ross–Weir公式,计算得出被测材料的介电系数和/或磁导率;/n其中,i为大于0小于等于N的正整数,N为大于等于4的偶数。/n
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