[发明专利]一种静态工作点可控制光电集成电场测量系统及方法在审
申请号: | 201710774300.9 | 申请日: | 2017-08-31 |
公开(公告)号: | CN107632211A | 公开(公告)日: | 2018-01-26 |
发明(设计)人: | 赵录兴;丁志;崔勇;袁海文;陆德坚;王磊;吴桂芳 | 申请(专利权)人: | 中国电力科学研究院;国家电网公司;北京航空航天大学;北京森馥科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R29/12 | 分类号: | G01R29/12 |
代理公司: | 北京工信联合知识产权代理有限公司11266 | 代理人: | 郭一斐 |
地址: | 100192 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种静态工作点可控制光电集成电场测量系统及方法,所述系统包括激光信号源,用于输出波长能够连续调节的激光信号;起偏器,用于对所述激光信号进行处理,获取线偏振光,并通过保偏光纤将所述线偏振光耦合至传感器;传感器,用于获取所述线偏振光的光功率信号;光电转换模块,用于将所述光功率信号转换为电压信号;调节控制模块,包括调节单元,用于将所述电压信号的值和预设的标准电压值进行比较,获取比较结果,并根据所述比较结果对所述激光信号源输出的激光信号的波长进行控制,直至光电转换模块输出的电压信号的值与标准电压值相等;计算单元,用于在测量待测电场时,根据光电转换模块输出的电压信号的值计算待测电场强度。 | ||
搜索关键词: | 一种 静态 工作 控制 光电 集成 电场 测量 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种静态工作点可控制光电集成电场测量系统,其特征在于,所述系统包括:激光信号源、起偏器、传感器、光电转换模块和调节控制模块,所述激光信号源,与所述起偏器的输入端相连接,用于输出波长能够连续调节的激光信号,并将所述激光信号输出至起偏器;所述起偏器,与所述传感器的输入端相连接,用于对所述激光信号进行处理,获取线偏振光,并通过保偏光纤将所述线偏振光耦合至传感器;所述传感器,与所述光电转换模块的输入端相连接,用于获取所述线偏振光的光功率信号,并将所述光功率信号输出至光电转换模块;所述光电转换模块,与所述调节控制模块相连接,用于将所述光功率信号转换为电压信号,并将所述电压信号的值输出至调节控制模块;所述调节控制模块,与所述激光信号源的输入端相连接,所述调节控制模块包括:调节单元,用于将所述电压信号的值和预设的标准电压值进行比较,获取比较结果,并根据所述比较结果对所述激光信号源输出的激光信号的波长进行控制,直至光电转换模块输出的电压信号的值与标准电压值相等;计算单元,用于在测量待测电场时,根据光电转换模块输出的电压信号的值计算待测电场强度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电力科学研究院;国家电网公司;北京航空航天大学;北京森馥科技股份有限公司,未经中国电力科学研究院;国家电网公司;北京航空航天大学;北京森馥科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710774300.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种太赫兹天线平面近场测量系统
- 下一篇:指纹芯片按压模拟测试装置及测试方法