[发明专利]基于点云信息的LED荧光粉胶涂覆平整度检测系统及方法

摘要

本发明公开基于点云信息的LED荧光粉胶涂覆平整度检测系统及方法。该方法包括如下步骤：1）对激光测距系统进行标定2）激光测距系统高速移动激光扫描待测芯片，并最终返回包括芯片在内的测量范围内的点距离数据集；3）可获得待检LED芯片的完整密集点云数据；4）对目标待检LED芯片点云数据集进行位姿矫正；5）对芯片上每一小块LED荧光粉胶涂覆区域进行分割单独分析；6）以厚度一致性、点间连接紧密性和形状吻合度为基准，判断其涂覆平整度达标与否。本发明及系统能较好地避免旋转、平移、缩放等引起的快速检测误差，对涂覆平整度的快速检测有较好的稳定性和准确性。