[发明专利]交叉字迹时序鉴别方法、系统及计算装置有效

专利信息
申请号: 201710775700.1 申请日: 2017-08-31
公开(公告)号: CN107643269B 公开(公告)日: 2020-02-04
发明(设计)人: 罗飞;夏永春;肖旭斌;梁洪易 申请(专利权)人: 深圳市中达瑞和科技有限公司
主分类号: G01N21/59 分类号: G01N21/59;G01N21/55
代理公司: 44298 广东广和律师事务所 代理人: 陈巍巍
地址: 518000 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及了一种基于透反光谱成像的交叉字迹时序鉴别方法、系统及计算装置,该交叉字迹时序鉴别方法包括:在对光源及样品进行透射光谱成像时,分别采集光源、背景纸张、背景纸张上第一字迹区域、背景纸张上第二字迹区域和背景纸张上交叉字迹区域的透射光谱强度;在对光源及样品进行反射光谱成像时,分别采集光源、背景纸张、第一字迹区域、第二字迹区域和交叉字迹区域的反射光谱强度;分别获取第一字迹、第二字迹和交叉字迹的透射光谱,以及第一字迹和第二字迹的反射光谱强度;分别确定第一字迹先第二字迹后的第一光谱特征,以及第二字迹先第一字迹后的第二光谱特征;确定第一字迹和第二字迹的时序。实施本发明的技术方案,可获得准确的鉴定结果。
搜索关键词: 交叉 字迹 时序 鉴别方法 系统 计算 装置
【主权项】:
1.一种基于透反光谱成像的交叉字迹时序鉴别方法,其特征在于,包括:/nS10.在对光源及样品进行透射光谱成像时,分别采集光源、背景纸张、背景纸张上第一字迹区域、背景纸张上第二字迹区域和背景纸张上交叉字迹区域的透射光谱强度;/nS20.在对光源及样品进行反射光谱成像时,分别采集光源、背景纸张、背景纸张上第一字迹区域、背景纸张上第二字迹区域和背景纸张上交叉字迹区域的反射光谱强度;/nS30.根据所采集的透射光谱强度和反射光谱强度,分别获取第一字迹、第二字迹和交叉字迹的透射光谱,以及第一字迹和第二字迹的反射光谱强度;/nS40.根据所述第一字迹、第二字迹和交叉字迹的透射光谱,以及第一字迹和第二字迹的反射光谱强度,分别确定第一字迹先第二字迹后的第一光谱特征,以及第二字迹先第一字迹后的第二光谱特征;/nS50.根据背景纸张上交叉字迹区域的反射光谱强度、第一光谱特征和第二光谱特征确定第一字迹和第二字迹的时序;/n其中:/n所述步骤S30包括以下子步骤:/nS31.根据公式11计算第一字迹的透射光谱;/n
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