[发明专利]具有物理不可克隆功能的器件及其制造方法、芯片有效
申请号: | 201710778298.2 | 申请日: | 2017-09-01 |
公开(公告)号: | CN109427667B | 公开(公告)日: | 2021-11-30 |
发明(设计)人: | 王东;包小燕;董天化;李广宁 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
主分类号: | H01L21/8234 | 分类号: | H01L21/8234;H01L21/265 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 张海强 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本申请公开了一种具有物理不可克隆功能的器件及其制造方法、芯片,涉及半导体技术领域。该方法包括:提供衬底结构,其包括:衬底,包括加密器件区和基准器件区;在加密器件区上的一个或多个用于加密器件的第一栅极结构及其侧壁上的第一间隔物层;在加密器件区和第一间隔物层上的第一互连层;在基准器件区上的一个或多个用于基准器件的第二栅极结构及其侧壁上的第二间隔物层;及在基准器件区和第二间隔物层上的第二互连层;执行第一离子注入,以在第一互连层中引入第一杂质;执行第二离子注入,以在第一和第二互连层中引入第二杂质;其中,具有物理不可克隆功能的器件的密码根据每个加密器件的漏电流和与该加密器件对应的基准器件的漏电流来确定。 | ||
搜索关键词: | 具有 物理 不可 克隆 功能 器件 及其 制造 方法 芯片 | ||
【主权项】:
1.一种具有物理不可克隆功能的器件的制造方法,其特征在于,包括:提供衬底结构,所述衬底结构包括:衬底,包括加密器件区和基准器件区;在所述加密器件区上的一个或多个用于加密器件的第一栅极结构;在所述第一栅极结构的侧壁上的第一间隔物层;在所述加密器件区和所述第一间隔物层上的第一互连层;在所述基准器件区上的一个或多个用于基准器件的第二栅极结构;在所述第二栅极结构的侧壁上的第二间隔物层;以及在所述基准器件区和所述第二间隔物层上的第二互连层;执行第一离子注入,所述第一离子注入在所述第一互连层中引入第一杂质;执行第二离子注入,所述第二离子注入在所述第一互连层和所述第二互连层中引入第二杂质;其中,所述第一互连层中的第二杂质扩散到所述第一栅极结构两侧的加密器件区中,以形成用于加密器件的第一源区和第一漏区;所述第二互连层中的第二杂质扩散到所述第二栅极结构两侧的基准器件区中,以形成用于基准器件的第二源区和第二漏区;其中,所述具有物理不可克隆功能的器件的密码根据每个加密器件的漏电流和与该加密器件对应的基准器件的漏电流来确定。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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