[发明专利]一种FIR滤波器的雷达晴天图设计方法有效
申请号: | 201710778307.8 | 申请日: | 2017-09-01 |
公开(公告)号: | CN107748357B | 公开(公告)日: | 2019-09-10 |
发明(设计)人: | 龙超;胡子军;刘子威;童建文;赵玉丽;习云飞;李嘉琦;欧乐庆;王寿峰;赵春光;翟海涛 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第二十八研究所 |
主分类号: | G01S7/41 | 分类号: | G01S7/41 |
代理公司: | 江苏圣典律师事务所 32237 | 代理人: | 胡建华 |
地址: | 210007 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了FIR滤波器的雷达晴天图设计方法,包括计算雷达参数:根据雷达的工作模式和系统参数。FIR处理:将天线调整为低速扫描,对脉冲回波进行滤波处理,计算地杂波估计。求模取对数:数据转换为对数,用于进行后续目标剔除和杂波能量估计。目标剔除:对扇区数据进行过门限处理,去掉距离维过门限的窄脉冲信号。距离合并:对距离单元数据选大处理,得到晴天图距离单元数据。晴天图修正与更新:剔除晴天图中的通信干扰影响,通过杂波图累积的方法更新晴天图,获取准确的晴天图估值。本方法解决了恶劣天气下静态地杂波背景无法准确估值的难题,保证雷达在任意天气条件下准确识别雷达杂波环境获取雷达晴天图。 | ||
搜索关键词: | 一种 fir 滤波器 雷达 晴天 设计 方法 | ||
【主权项】:
1.一种FIR滤波器的雷达晴天图设计方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1,计算雷达参数:根据雷达的距离单元总数Rmax和单个扇区内脉冲总数I,计算雷达晴天图包含的雷达距离采样单元n、晴天图扇区编号j;步骤2,FIR处理:将天线调整为低速扫描,对脉冲回波进行滤波处理,计算地杂波估计;步骤3,求模取对数:数据转换为对数;步骤4,目标剔除:对扇区数据进行过门限处理,去掉距离维过门限的窄脉冲信号;步骤5,距离合并:对距离单元数据选大处理,得到晴天图距离单元数据;步骤6,晴天图修正与更新:剔除晴天图中的通信干扰影响,通过杂波图累积的方法更新晴天图,获取准确的晴天图估值;步骤2中,根据以下公式对第j个晴天图扇区内脉冲序号为i的脉冲回波数据:xji(n),j=0,...,J‑1;i=0,...,I‑1,其中I是单个扇区内脉冲总数,i是扇区内的脉冲序号,J是晴天图扇区总个数,j表示晴天图扇区编号,k是距离编号;对n=0,...,Rmax‑1中的前M个扫掠数据进行FIR处理,M小于等于I,Rmax是单个扫掠的距离单元总数,从而得到雷达距离采样单元编号n对应的第j个晴天图扇区的滤波输出信号y1j(n):
其中,wi是滤波系数,对于地杂波,wi=1,当脉冲数超过M时,数据停止累加;步骤3中,对FIR输出数据y1j(n)进行求模取对数处理,得到第j个扇区数据y2j(n):y2j(n)=A*log[abs(y1j(n))],j=0,1,…,J‑1;n=0,1,…,Rmax‑1其中,A是比例系数;步骤4中,对第j个晴天图扇区数据y2j(n)进行过门限处理,去掉距离维过门限的窄脉冲信号,得到目标剔除后数据y3j(n),包括:步骤41,对第j个晴天图扇区y2j(n)进行恒虚警处理,得到检测结果y2j'(n);步骤42,标记检测结果y2j'(n)中的窄脉冲数据,窄脉冲判别方式:统计检测结果y2j'(n)中是目标信号的脉冲宽度,脉冲宽度小于给定门限V3T,则判定为窄脉冲;步骤43,按照窄脉冲标记,将第j个晴天图扇区y2j(n)中对应位置数据置零,得到扇区修正数据y3j(n);步骤5中距离选大为:对数据y3j(n)在第k个晴天图距离单元内作选大处理,k=0,1,...,K‑1,K为晴天图距离分辨单元总数,得到第j个晴天图单元(j,k)的当前帧的临时晴天图数据CDMnow(j,k),CDMnow(j,k)=max(y3j(2k),y3j(2k‑1))其中,j=0,1,…,J‑1;k=0,1,...,Rmax/2‑1;步骤6中,晴天图修正与更新包括:步骤61,修正:晴天图中包含了固定扇区干扰,将晴天图中的干扰信息去除,获得准确的地杂波和噪声分区;更新:通过对Fr帧数据的迭代积累实现晴天图的更新,从而得到最终的晴天图数据CDM(j,k),第fr帧晴天图数据CDMfr(j,k)的更新公式为:
最终的晴天图即最后一帧更新完的晴天图:CDM(j,k)=CDMFr(j,k),式中,CDMfr‑1(j,k)表示第fr‑1帧晴天图数据,fr的取值范围是1~Fr,α=1/8是杂波图更新系数,Fr为晴天图更新需要的总的数据帧数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第二十八研究所,未经中国电子科技集团公司第二十八研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710778307.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:基于分析与综合的宽带数字波束形成装置
- 下一篇:海表风场反演方法及装置