[发明专利]光电式双向位移量测方法有效
| 申请号： | 201710779731.4 | 申请日： | 2017-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN107388974B | 公开（公告）日： | 2019-10-15 |
| 发明（设计）人： | 王群敏;吴勇;黄江华;陈文华;王烨晟 | 申请（专利权）人： | 浙江华东工程安全技术有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 杭州九洲专利事务所有限公司 33101 | 代理人： | 沈敏强 |
| 地址： | 311122 浙江省杭州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种光电式双向位移量测新方法。本发明的目的是提供一种高精度、非接触式、易联网、操作便捷、成本较低的光电式双向位移量测新方法。本发明的技术方案是：一种光电式双向位移量测新方法，其特征在于：参考点上设置成像靶面Ⅰ，测点上设置成像靶面Ⅱ，在参考点与测点之间的连线范围外设置中间点，中间点上设置两组激光发射器，两组激光发射器分别对应成像靶面Ⅰ和成像靶面Ⅱ发射激光束，两组激光发射器射出的激光束之间夹角为固定值，且两激光束分别在成像靶面Ⅰ和成像靶面Ⅱ上形成光斑。本发明适用于非接触的两测试点间的竖向位移和相对水平位移变化量测，以及结构裂缝的两向位移变化量测。 | ||
| 搜索关键词： | 光电 双向 位移 新方法 | ||
【主权项】：
1.一种光电式双向位移量测方法，其特征在于：参考点(1)上设置成像靶面Ⅰ(4)，测点(2)上设置成像靶面Ⅱ(5)，在参考点(1)与测点(2)之间的连线范围外设置中间点(3)，中间点(3)上设置两组激光发射器(6)，两组激光发射器(6)分别对应成像靶面Ⅰ(4)和成像靶面Ⅱ(5)发射激光束，两组激光发射器(6)射出的激光束之间夹角为固定值，且两激光束分别在成像靶面Ⅰ(4)和成像靶面Ⅱ(5)上形成光斑；分别通过成像光电器件获取成像靶面Ⅰ(4)和成像靶面Ⅱ(5)上的光斑信息，光斑信息并经信号处理单元通过图形处理算法找出光斑的中心点在对应的成像靶面Ⅰ、Ⅱ上的坐标位置；当成像靶面Ⅰ、Ⅱ上光斑中心点的坐标位置反生变化时，根据成像靶面Ⅰ、Ⅱ上光斑中心点的坐标位置变化信息，结合已知的初始时成像靶面Ⅰ(4)和成像靶面Ⅱ(5)相对位置关系，得出测点(2)相对于参考点(1)发生的位移变化值。
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