[发明专利]用于鉴定各种分子的单同位素质量的方法有效
| 申请号： | 201710780048.2 | 申请日： | 2017-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN107807198B | 公开（公告）日： | 2020-08-04 |
| 发明（设计）人： | T·克里斯蒂安;K·安德里亚斯 | 申请（专利权）人： | 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司 |
| 主分类号： | G01N30/72 | 分类号： | G01N30/72 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 陶家蓉;余颖 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于鉴定单同位素质量或与样品中含有的和/或通过至少电离过程从样品产生的至少一种分子的同位素分布的同位素质量相关的参数的方法。该方法包括以下步骤：(i)用质谱仪测量样品的质谱(ii)将所述样品的所述质谱的测量的m/z值的至少一个范围分割成几个部分(iii)将测量的m/z值的所述至少一个范围的至少一些所述部分分配给几个所提供的处理器中的一个处理器(iv)对于所述样品中含有的或从所述样品产生的所述至少一种分子中的每个，在测量的m/z值的所述至少一个范围的至少一个所述部分中，从所述测量的质谱中推导出具有比电荷z的其离子的同位素分布(v)从所述样品中含有的和/或从所述样品产生的所述至少一种分子中的每个的离子的至少一个推导出的同位素分布推导出所述单同位素质量或与这种分子的同位素分布的同位素质量相关的参数。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 鉴定 各种 分子 同位素 质量 方法 | ||
【主权项】：
一种用于鉴定单同位素质量或与样品中含有的和/或通过至少电离过程从样品产生的至少一种分子的同位素分布的同位素质量相关的参数的方法，其包括以下步骤：(i)用质谱仪测量所述样品的质谱(ii)将所述样品的所述质谱的测量的m/z值的至少一个范围分割成几个部分(iii)将测量的m/z值的所述至少一个范围的至少一些所述部分分配给几个所提供的处理器中的一个处理器(iv)对于所述样品中含有的或从所述样品产生的所述至少一种分子中的每个，在测量的m/z值的所述至少一个范围的至少一个所述部分中，从所述测量的质谱中推导出具有比电荷z的其离子的同位素分布(v)从所述样品中含有的和/或从所述样品产生的所述至少一种分子中的每个的离子的至少一个推导出的同位素分布推导出所述单同位素质量或与这种分子的所述同位素分布的所述同位素质量相关的参数。
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