[发明专利]一种离子推力器等离子体鞘层曲率测量方法在审
| 申请号： | 201710781230.X | 申请日： | 2017-09-01 |
| 公开（公告）号： | CN107484318A | 公开（公告）日： | 2017-12-15 |
| 发明（设计）人： | 贾连军;张天平;刘明正;贾艳辉;陈娟娟;杨乐;龙建飞 | 申请（专利权）人： | 兰州空间技术物理研究所 |
| 主分类号： | H05H1/00 | 分类号： | H05H1/00 |
| 代理公司： | 北京理工大学专利中心11120 | 代理人： | 仇蕾安,付雷杰 |
| 地址： | 730000 甘*** | 国省代码： | 甘肃;62 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种离子推力器等离子体鞘层曲率测量方法，该测量方法利用鞘层曲面上等离子体密度处处相等和离子束流下游相邻位置的等离子体密度发生突变来测量等离子体密度，从而找出鞘层曲面，并得到鞘层曲率。本发明能够提供一种得到等离子体鞘层曲面的方法，完善了离子推力器栅极系统设计方法，弥补了离子推力器栅极系统的设计未考虑等离子体鞘层曲率影响的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 离子 推力 等离子体 曲率 测量方法 | ||
【主权项】：
一种离子推力器等离子体鞘层曲率测量方法，其特征在于，该测量方法利用鞘层曲面上等离子体密度处处相等和离子束流下游相邻位置的等离子体密度发生突变来测量等离子体密度，从而找出鞘层曲面，并得到鞘层曲率。
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