[发明专利]一种阵列基板、其检测方法及显示装置在审

专利信息
申请号: 201710786474.7 申请日: 2017-09-04
公开(公告)号: CN107422560A 公开(公告)日: 2017-12-01
发明(设计)人: 刘英明;董学;王海生;吴俊纬;丁小梁;许睿;刘伟 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: G02F1/1362 分类号: G02F1/1362;G02F1/1333;G06K9/00
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司11291 代理人: 郭润湘
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种阵列基板、其检测方法及显示装置,该阵列基板,包括衬底基板,位于衬底基板上的薄膜晶体管,以及位于衬底基板上的光敏层;其中,光敏层,包括遮光部;遮光部的图形在衬底基板上的正投影至少部分遮挡薄膜晶体管的有源层的图形,且遮光部位于薄膜晶体管的有源层背离栅极的一侧。本发明实施例中的阵列基板,采用光敏层中的遮光部遮挡有源层的图形,由于光敏层受到光线照射会产生光生电流,即光敏层可以将光能转换为电能,因此,光敏层具有一定的吸光作用,大部分光线被光敏层吸收,减少了遮光部的光反射,降低对显示装置的显示效果的影响。
搜索关键词: 一种 阵列 检测 方法 显示装置
【主权项】:
一种阵列基板,其特征在于,包括:衬底基板,位于所述衬底基板上的薄膜晶体管,以及位于所述衬底基板上的光敏层;其中,所述光敏层,包括:遮光部;所述遮光部的图形在所述衬底基板上的正投影至少部分遮挡所述薄膜晶体管的有源层的图形,且所述遮光部位于所述薄膜晶体管的有源层背离栅极的一侧。
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