[发明专利]一种基于光度立体视觉的多个磨粒三维形貌同步获取方法有效
申请号: | 201710794153.1 | 申请日: | 2017-09-06 |
公开(公告)号: | CN107677216B | 公开(公告)日: | 2019-10-29 |
发明(设计)人: | 武通海;王硕;霍彦文;杨羚烽 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24;G01N15/02 |
代理公司: | 西安智大知识产权代理事务所 61215 | 代理人: | 弋才富 |
地址: | 710049 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 一种基于光度立体视觉的多个磨粒三维形貌同步获取方法,通过将铁谱技术与三维重构技术相结合,首先利用铁谱技术制作包含多个磨粒的谱片,然后针对铁谱显微镜拍摄图片存在畸变的状况,利用张正友标定法对其进行矫正。基于此方法结合所建立的光源系统,通过显微镜摄像机获取了不同光源磨粒图像,结合自适应阈值法与差分法实现了磨粒与背景的分离,之后,基于光度立体视觉,通过选择合适的反射模型计算磨粒表面法向量,进而构造深度值,重构了磨粒的三维形貌。这样,利用铁谱显微镜获取具有多个磨粒的谱片图像,不需要变换显微镜焦距,通过切换不同角度的光源就可以同步重构出多个磨粒的三维形貌,本专利有效地将铁谱技术与光度立体视觉相结合,解决了目前磨粒分析领域磨粒三维形貌特征缺乏的问题。 | ||
搜索关键词: | 磨粒 三维形貌 立体视觉 光度 铁谱技术 显微镜 同步获取 铁谱 重构 光源 三维重构技术 自适应阈值法 图像 显微镜焦距 光源系统 模型计算 磨粒表面 磨粒分析 拍摄图片 差分法 法向量 有效地 标定 畸变 反射 矫正 摄像机 制作 | ||
【主权项】:
1.一种基于光度立体视觉的多个磨粒三维形貌同步获取方法,利用铁谱显微镜获取具有多个磨粒的谱片图像,不需要变换显微镜焦距,通过切换不同角度的光源就可以同步重构出磨粒的三维形貌,其特征在于:步骤一、利用张正友标定法对铁谱显微镜摄像机存在的畸变进行矫正,得到矫正图像;步骤二、利用均匀分布的多个光源依次照射铁谱谱片,从而获取不同光源的磨粒图像;步骤三、光源方向标定,测量光源相对于磨粒的位置(X,Y,Z),并进行归一化来近似估计各个光源的光线入射方向,其中X,Y,Z分别表示为光源相对于磨粒在三个方向上的距离;步骤四、基于自适应阈值法,通过全光源图像计算mask图;步骤五、基于差分法,利用mask图对不同光源的磨粒图像进行处理,将重构物体与背景分离,步骤六、基于光度立体视觉对磨粒形貌进行重构;S1,反射模型选择,选定物体的反射模型为Phong模型;S2,基于Phong模型,计算8张磨粒图像的亮度矩阵和相应的光源方向矩阵,进而采用最小二乘法原理计算,最后单位化得到法向量;S3,根据测量材质的法向信息,计算测量的梯度场信息,并将其作为输入,采用最小二乘的曲面重建方法计算测量材质的深度信息,完成磨粒三维形貌重构。
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