[发明专利]一种同步跨尺度残余应力检测装置有效
| 申请号： | 201710796979.1 | 申请日： | 2017-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN107764450B | 公开（公告）日： | 2020-08-11 |
| 发明（设计）人： | 吴琼;高瀚君;张以都;陈曙光;李磊;谢东健 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01L5/00 | 分类号： | G01L5/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种同步跨尺度残余应力检测装置，包括可进行宏观残余应力检测的激光检测系统和微观残余应力检测的PROTO‑IXRD‑MGR 40 X‑射线检测系统，以及加持加载装置和基座。激光检测系统由激光发射仪（1）、激光头（13）、激光头底座（12）、激光检测镜头（11）、激光检测镜头底座（10）和钻机（14）组成；PROTO‑IXRD‑MGR 40 X‑射线检测系统由X‑射线发射仪（5）、PROTO‑IXRD‑MGR 40 X‑射线应力检测仪（7）组成；加持加载装置由活动端（4）、固定端（9）、电机（3）、测力计（2）组成；以及基座（6），这些零部件共同构成了整套残余应力检测装置。与现有技术相比，本发明显著优点有:1)同步、跨尺度测量微观和宏观两类残余应力；2)可通过对标准板加载进行残余应力标定；3)可实现实时性、全场性检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 同步 尺度 残余 应力 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种同步跨尺度残余应力检测装置的设计开发，其特征在于，采用多种测量方式，测量多种尺寸精度的综合性残余应力检测装置。具体包括可进行宏观残余应力检测的激光残余应力检测系统和可进行微观残余应力检测的PROTO‑IXRD‑MGR 40 X‑射线残余应力检测系统，以及对待测件进行固定和载荷施加的加持加载装置和用于安装以上所有设备的基座。
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