[发明专利]一种图像型电子自旋分析器有效
申请号: | 201710800610.3 | 申请日: | 2017-09-07 |
公开(公告)号: | CN109470731B | 公开(公告)日: | 2020-10-20 |
发明(设计)人: | 乔山 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
主分类号: | G01N24/00 | 分类号: | G01N24/00 |
代理公司: | 上海泰能知识产权代理事务所 31233 | 代理人: | 宋缨 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种图像型电子自旋分析器,包括:电子光学系统、散射靶和二维图像型电子探测器;所述电子光学系统包括非轴对称透镜群和磁场,非轴对称透镜群与磁场相配合使入射电子与出射电子的运动轨道相分离以增加自旋分析器各部件几何配置的自由度,将入射电子偏转并成像至与所述反射靶相对应的特定平面处,并将由所述散射靶散射后的电子成像在所述二维图像型电子探测器上形成二维电子强度图像,从而实现电子自旋的多通道测量;非轴对称透镜的引入可以补偿磁场电子光学特性在垂直及平行磁场方向的非对称性、减小光学系统的像差、并使电子光学系统的调试更为简单。 | ||
搜索关键词: | 一种 图像 电子 自旋 分析器 | ||
【主权项】:
1.一种图像型电子自旋分析器,其特征在于,所述图像型电子自旋分析器至少包括:电子光学系统、散射靶及二维图像型电子探测器;所述电子光学系统用于使初始入射电子偏转第一设定角度后在所述散射靶平面或所述散射靶平面后的任意一平面上成像,再使经所述散射靶弹性散射后的出射电子偏转第二设定角度后在所述二维图像型电子探测器平面上成像;其中,所述电子光学系统包括磁场和非轴对称透镜群;所述磁场用于分离入射电子和出射电子的运动轨道并实现电子运动方向的偏转;所述非轴对称透镜群用于补偿磁场电子光学特性在垂直及平行磁场方向的非对称性,减小像差,并使电子束在像平面上在沿垂直磁场方向和平行磁场的两个方向上同时成像。
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