[发明专利]一种线损点检系统及方法有效
申请号: | 201710800744.5 | 申请日: | 2017-09-07 |
公开(公告)号: | CN109470939B | 公开(公告)日: | 2021-01-29 |
发明(设计)人: | 罗良萌 | 申请(专利权)人: | 深圳市中兴微电子技术有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 518055 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种线损点检方法,包括以下步骤:通过线损设置策略调整频段对应的配置线损值,进行金机制作;利用所述金机对环境线损进行点检;增加频段的功率修正参数,消除调整频段对应的配置线损值带来的影响,获得点检环境下的真实功率。本发明还提供一种线损点检系统,克服了现有技术中存在的不同仪表间差异和测量精度问题,有效规避了金机点检小线损为负值问题,提高了工厂生产效率,节省了工厂及客户生产成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 点检 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种线损点检系统,包括,线损配置单元、金机制作单元、校准单元,以及点检单元,其特征在于,所述线损配置单元,其通过线损设置策略调整频段对应的配置线损值;所述金机制作单元,其根据所述配置线损值,进行金机制作;所述校准单元,其针对校准的每个频段设置一功率修正参数;所述点检单元,其根据发送与金机制作时相同的PA控制字,对环境线损进行点检补偿。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市中兴微电子技术有限公司,未经深圳市中兴微电子技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710800744.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。