[发明专利]一种线损点检系统及方法有效

专利信息
申请号: 201710800744.5 申请日: 2017-09-07
公开(公告)号: CN109470939B 公开(公告)日: 2021-01-29
发明(设计)人: 罗良萌 申请(专利权)人: 深圳市中兴微电子技术有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆
地址: 518055 广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种线损点检方法,包括以下步骤:通过线损设置策略调整频段对应的配置线损值,进行金机制作;利用所述金机对环境线损进行点检;增加频段的功率修正参数,消除调整频段对应的配置线损值带来的影响,获得点检环境下的真实功率。本发明还提供一种线损点检系统,克服了现有技术中存在的不同仪表间差异和测量精度问题,有效规避了金机点检小线损为负值问题,提高了工厂生产效率,节省了工厂及客户生产成本。
搜索关键词: 一种 点检 系统 方法
【主权项】:
1.一种线损点检系统,包括,线损配置单元、金机制作单元、校准单元,以及点检单元,其特征在于,所述线损配置单元,其通过线损设置策略调整频段对应的配置线损值;所述金机制作单元,其根据所述配置线损值,进行金机制作;所述校准单元,其针对校准的每个频段设置一功率修正参数;所述点检单元,其根据发送与金机制作时相同的PA控制字,对环境线损进行点检补偿。
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