[发明专利]高压元件及其制造方法有效
申请号: | 201710805808.0 | 申请日: | 2017-09-08 |
公开(公告)号: | CN109473427B | 公开(公告)日: | 2020-06-30 |
发明(设计)人: | 黄宗义 | 申请(专利权)人: | 立锜科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/04 | 分类号: | H01L27/04;H01L29/06;H01L29/78;H01L21/336 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 李兰;孙志湧 |
地址: | 中国台湾新*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明提出一种高压元件及其制造方法。高压元件形成于一半导体基板,包含:第一深阱区、横向轻掺杂区、高压阱区、绝缘区、本体区、栅极、源极、漏极与第一隔绝阱区。其中,第一深阱区与第一隔绝阱区以将该高压元件,于半导体基板上表面下,与邻近元件电性隔绝。该横向轻掺杂区于纵向上介于第一深阱区与高压阱区之间,且该横向轻掺杂区上下邻接于第一深阱区与高压阱区。其中,该横向轻掺杂区用以于该高压元件操作时,降低该高压元件内部的电容,改善瞬时响应。 | ||
搜索关键词: | 高压 元件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种高压元件,其特征在于,形成于一半导体基板,其中该半导体基板,于一纵向上,具有相对的一上表面与一下表面,该高压元件包含:一第一深阱区,具有一第一导电型,形成于该半导体基板中;一横向轻掺杂区,覆盖并连接于该第一深阱区上;一高压阱区,具有一第二导电型,形成于该半导体基板中,且于该纵向上,该高压阱区位于该上表面下方并接触于该上表面,且该高压阱区覆盖并连接于该横向轻掺杂区上,其中部分该高压阱区用以作为一漂移区;一绝缘区,形成于该上表面之上,用以定义一操作区;一本体区,具有该第一导电型,形成于该半导体基板中并位于该操作区中,且于该纵向上,位于该上表面下方并接触于该上表面,其中部分该本体区用以作为一开关通道区,且该本体区于该上表面下方,由该高压阱区环绕其两侧及下方;一栅极,形成于该上表面上并位于该元件区中,于该纵向上,该栅极堆叠并接触于该上表面上,用以根据一栅极电压,决定该高压元件导通及不导通;一源极,具有该第二导电型,形成于该半导体基板中并位于该元件区中,且于该纵向上,位于该上表面下方并接触于该上表面,且该源极于该上表面下方,由该本体区环绕其两侧及下方,于一横向上,该源极位于该栅极外的一第一侧的下方,且在该横向上,该源极与该栅极邻接;一漏极,具有该第二导电型,形成于该半导体基板中并位于该元件区中,且于该纵向上,位于该上表面下方并接触于该上表面,于该横向上,该漏极位于该栅极外相对于该第一侧的一第二侧的下方,且在该横向上,该漏极与该栅极由该漂移区隔开;以及一第一隔绝阱区,具有该第一导电型,该第一隔绝阱区位于该操作区外侧,且于该上表面下方,围绕该操作区,并在该纵向上,自该上表面延伸至该第一深阱区,且与该第一深阱区连接;其中,该本体区、该栅极、该源极、与该漏极都位于该操作区中。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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