[发明专利]高压元件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201710805808.0 申请日: 2017-09-08
公开(公告)号: CN109473427B 公开(公告)日: 2020-06-30
发明(设计)人: 黄宗义 申请(专利权)人: 立锜科技股份有限公司
主分类号: H01L27/04 分类号: H01L27/04;H01L29/06;H01L29/78;H01L21/336
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 李兰;孙志湧
地址: 中国台湾新*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明提出一种高压元件及其制造方法。高压元件形成于一半导体基板,包含:第一深阱区、横向轻掺杂区、高压阱区、绝缘区、本体区、栅极、源极、漏极与第一隔绝阱区。其中,第一深阱区与第一隔绝阱区以将该高压元件,于半导体基板上表面下,与邻近元件电性隔绝。该横向轻掺杂区于纵向上介于第一深阱区与高压阱区之间,且该横向轻掺杂区上下邻接于第一深阱区与高压阱区。其中,该横向轻掺杂区用以于该高压元件操作时,降低该高压元件内部的电容,改善瞬时响应。
搜索关键词: 高压 元件 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种高压元件,其特征在于,形成于一半导体基板,其中该半导体基板,于一纵向上,具有相对的一上表面与一下表面,该高压元件包含:一第一深阱区,具有一第一导电型,形成于该半导体基板中;一横向轻掺杂区,覆盖并连接于该第一深阱区上;一高压阱区,具有一第二导电型,形成于该半导体基板中,且于该纵向上,该高压阱区位于该上表面下方并接触于该上表面,且该高压阱区覆盖并连接于该横向轻掺杂区上,其中部分该高压阱区用以作为一漂移区;一绝缘区,形成于该上表面之上,用以定义一操作区;一本体区,具有该第一导电型,形成于该半导体基板中并位于该操作区中,且于该纵向上,位于该上表面下方并接触于该上表面,其中部分该本体区用以作为一开关通道区,且该本体区于该上表面下方,由该高压阱区环绕其两侧及下方;一栅极,形成于该上表面上并位于该元件区中,于该纵向上,该栅极堆叠并接触于该上表面上,用以根据一栅极电压,决定该高压元件导通及不导通;一源极,具有该第二导电型,形成于该半导体基板中并位于该元件区中,且于该纵向上,位于该上表面下方并接触于该上表面,且该源极于该上表面下方,由该本体区环绕其两侧及下方,于一横向上,该源极位于该栅极外的一第一侧的下方,且在该横向上,该源极与该栅极邻接;一漏极,具有该第二导电型,形成于该半导体基板中并位于该元件区中,且于该纵向上,位于该上表面下方并接触于该上表面,于该横向上,该漏极位于该栅极外相对于该第一侧的一第二侧的下方,且在该横向上,该漏极与该栅极由该漂移区隔开;以及一第一隔绝阱区,具有该第一导电型,该第一隔绝阱区位于该操作区外侧,且于该上表面下方,围绕该操作区,并在该纵向上,自该上表面延伸至该第一深阱区,且与该第一深阱区连接;其中,该本体区、该栅极、该源极、与该漏极都位于该操作区中。
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