[发明专利]一种等效平面交叉耦合控制方法有效

专利信息
申请号: 201710809039.1 申请日: 2017-09-11
公开(公告)号: CN107589720B 公开(公告)日: 2019-10-11
发明(设计)人: 马建伟;贾振元;宋得宁;王福吉;张宁 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: G05B19/19 分类号: G05B19/19;G05B11/42
代理公司: 大连理工大学专利中心 21200 代理人: 关慧贞
地址: 116024 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明一种等效平面交叉耦合控制方法属于多轴数控加工技术领域,涉及一种基于等效平面的用于提高三轴数控系统轮廓跟踪控制精度的三轴交叉耦合控制方法。该方法通过切向逆推及牛顿法,寻找实际刀位点到理想轮廓的近似垂足点,进而过近似垂足点处曲线切线及实际刀位点建立等效平面,将三维轮廓误差矢量解耦成等效平面内的二维轮廓误差标量。并在等效平面内对带符号的轮廓误差标量进行PID控制,将等效平面内的两轴控制量耦合为实际空间三轴控制量,从而提高三轴轮廓跟踪精度。该方法可提高轮廓控制器设计的灵活性,将三维轮廓误差控制等效为两轴轮廓误差控制问题,可实现利用二维轮廓控制器对三维轮廓跟踪误差的等价控制。
搜索关键词: 一种 等效 平面交叉 耦合 控制 方法
【主权项】:
1.一种等效平面交叉耦合控制方法,其特性在于,该方法通过寻找实际刀位点到理想轮廓的近似垂足点,过近似垂足点处曲线切线及实际刀位点建立等效平面,将三维轮廓误差矢量解耦成等效平面内的二维轮廓误差标量,并在等效平面内对带符号的轮廓误差标量进行PID控制,将等效平面内的两轴控制量耦合为实际空间三轴控制量,从而提高三轴轮廓跟踪精度;方法具体步骤如下:第一步 建立等效平面设从参数曲线插补器中获得的理想轮廓参数方程为C=C(u),u为曲线参数,理想刀位点为R=[rx,ry,rz],理想刀位点处曲线参数为ur,实际刀位点为P=[px,py,pz];定义曲线上C(u0)点处的切向误差dt(u0)为向量C(u0)‑P在C(u0)点处切线方向上的投影,计算为:其中C′(u0)为C(u0)对曲线参数u0的一阶导矢,|| ||表示欧几里得范数;由于轮廓误差定义为实际刀位点到理想轮廓的垂直距离,当C(u0)恰好为理想轮廓上距离实际刀位点P最近的垂足点时,切向误差dt(u0)必为零;通过求解方程dt(u0)=0找到P到理想轮廓近似垂足点处参数uf,以为建立等效平面奠定基础;首先,通过切向逆推计算逆推点参数ub其次,将参数ub作为牛顿法初值,利用牛顿法求取方程dt(u0)=0的解uN最后,判断牛顿法是否收敛,若|dt(uN)|<|dt(ub)|,说明牛顿法收敛,令垂足点参数uf=uN,否则,在ub处重新利用切向逆推计算垂足点参数,据此,垂足点参数为uf计算为:过实际刀位点P和近似垂足点C(uf)处曲线切线建立等效平面,等效平面法向量nE为:其中×表示向量外积;以等效平面与原始空间直角坐标系XY平面交线作为等效平面水平轴XE,以垂直于XE的方向作为等效平面竖直轴YE,二者计算方法为:第二步 等效平面内轮廓误差计算与交叉耦合控制在等效平面内计算带有正负号的轮廓误差估计值,实际刀位点P到近似垂足点C(uf)的XE向随动误差ex,E及YE向随动误差ey,E为:计算等效平面内轮廓误差估计值其中Cx,E、Cy,E分别为等效平面内XE和YE向交叉耦合增益,计算为:θ为C′(uf)与XE的夹角,且以带有正负号的等效平面内轮廓误差估计值为控制对象,进行PID控制,得到t时刻交叉耦合控制量Uc(t)为:其中kp、ki、kd分别为比例、积分、微分增益;根据交叉耦合控制量Uc(t),计算XE向控制量Δx,E、YE向控制量Δy,E第三步 空间三轴控制量计算根据等效平面水平轴、竖直轴与原始空间直角坐标系X、Y、Z轴关系,计算等效平面两轴到空间各轴的耦合增益:其中,kx,x为XE轴到X轴耦合增益,kx,y为XE轴到Y轴耦合增益,ky,x为YE轴到X轴耦合增益,ky,y为YE轴到Y轴耦合增益,ky,z为YE轴到Z轴耦合增益;进而计算X轴控制量Δx、Y轴控制量Δy、Z轴控制量Δz将X轴控制量Δx、Y轴控制量Δy、Z轴控制量Δz分别加入到X、Y、Z进给轴位置环控制量中,实现等效平面交叉耦合控制,从而降低三维空间轮廓误差。
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