[发明专利]磁粉探伤装置及磁粉探伤方法在审
| 申请号： | 201710814628.9 | 申请日： | 2017-09-12 |
| 公开（公告）号： | CN107817291A | 公开（公告）日： | 2018-03-20 |
| 发明（设计）人： | 松本谦二;一本哲男 | 申请（专利权）人： | 码科泰克株式会社 |
| 主分类号： | G01N27/84 | 分类号： | G01N27/84 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人： | 李鹏宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种瑕疵部的检测准确度高、圆周方向的检测能力固定不变的磁粉探伤装置及磁粉探伤方法。磁粉探伤装置(1)具备以水平方向为轴可旋转地支承被检查物(10)的支承部(11)、将被检查物(10)磁化的磁化部(12)、将磁粉液涂覆于被检查物(10)的涂覆部(13)和对被检查物(10)进行摄像的摄像部(15)，构成为，在下方侧将磁粉液涂覆于以固定速度旋转的旋转状态的被检查物(10)的表面，在上方侧进行摄像。 | ||
| 搜索关键词： | 探伤 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种磁粉探伤装置，其特征在于，具备：以水平方向为轴将被检查物支承为可旋转的支承部、将上述被检查物磁化的磁化部、将磁粉液涂覆于上述被检查物的涂覆部，和对上述被检查物进行摄像的摄像部；构成为，在下方侧将上述磁粉液涂覆于以固定速度旋转的旋转状态的上述被检查物的表面，在上方侧进行摄像。
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