[发明专利]一种存储卡集成电路测试用测试台有效
申请号: | 201710816294.9 | 申请日: | 2017-09-12 |
公开(公告)号: | CN107656189B | 公开(公告)日: | 2019-11-15 |
发明(设计)人: | 杜俊慧;汤晓娟;彭姗姗 | 申请(专利权)人: | 福州思琪科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/04;H05K7/20 |
代理公司: | 11638 北京权智天下知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 王新爱<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
地址: | 350000福建省福州市长*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 本发明涉及一种测试台,尤其涉及一种存储卡集成电路测试用测试台。本发明要解决的技术问题是提供一种取出便利、散热效果好的存储卡集成电路测试用测试台。为了解决上述技术问题,本发明提供了这样一种存储卡集成电路测试用测试台,包括有支撑柱等;工作板顶部设置有通孔,工作板中部设置有第一凹槽,第一凹槽内设置有放置装置,放置装置底部左右对称式设置有滚动轮,放置装置后侧连接有固定装置,固定装置穿过通孔,工作板底部均匀设置有透气孔,透气孔位于第一凹槽下方,透气孔与第一凹槽连通。本发明达到了取出便利和散热效果好的效果,放置装置中的固定框被用于放置存储卡,使其取出便利,与透气孔配合,便于散热。 | ||
搜索关键词: | 一种 存储 集成电路 测试 | ||
【主权项】:
1.一种存储卡集成电路测试用测试台,其特征在于,包括有支撑柱(1)、工作板(2)、放置装置(3)、固定装置(5)、感应器(7)和滚动轮(9),工作板(2)顶部设置有通孔(6),工作板(2)中部设置有第一凹槽(4),第一凹槽(4)内设置有放置装置(3),放置装置(3)底部左右对称式设置有滚动轮(9),放置装置(3)后侧连接有固定装置(5),固定装置(5)穿过通孔(6),工作板(2)底部均匀设置有透气孔(8),透气孔(8)位于第一凹槽(4)下方,透气孔(8)与第一凹槽(4)连通,工作板(2)底部左右对称式设置有第二凹槽(10),第二凹槽(10)位于第一凹槽(4)下方,第二凹槽(10)位于透气孔(8)两侧,左侧的滚动轮(9)位于左侧的第二凹槽(10)内,右侧的滚动轮(9)位于右侧的第二凹槽(10)内,工作板(2)内左右两侧对称式设置有感应器(7),感应器(7)位于第一凹槽(4)两侧,左侧的工作板(2)底壁左右两侧和前后两侧均对称式设置有支撑柱(1)。/n
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