[发明专利]一种光学检焦系统及方法在审

专利信息
申请号: 201710816787.2 申请日: 2017-09-12
公开(公告)号: CN109001885A 公开(公告)日: 2018-12-14
发明(设计)人: 丁亚林;苏东风;陈志超;刘波 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G02B7/28 分类号: G02B7/28;G02B17/06
代理公司: 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 代理人: 赵勍毅
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明提供一种光学检焦系统及方法,采用远小于通光孔径的检焦平面反射镜,通过合理布置平面反射镜位置,检焦时利用平面反射镜静止,主光学系统在俯角电机驱动下绕垂直于光轴平面的轴作往复小幅摆动的方法,从而大幅减小了相机的尺寸和重量,另外也便于对检焦反射镜进行温控,从而保证了检焦精度。
搜索关键词: 平面反射镜 检焦系统 反射镜 主光学系统 电机驱动 光轴平面 通光孔径 焦平面 摆动 俯角 减小 温控 静止 相机 垂直 保证
【主权项】:
1.一种光学检焦系统,其特征在于,包括发光元件、光栅、焦平面反射镜、透镜组、折转反射镜、平面反射镜、次镜、主镜、俯角电机、调焦电机以及光敏元件,所述次镜、所述折转反射镜、所述主镜构成主光学系统,所述平面反射镜位于所述次镜和所述主镜之间,所述发光元件发出的光照射在所述光栅,所述光栅形成的光栅像经由焦平面反射依次经过所述透镜组、所述折转反射镜、所述次镜和所述主镜后照射在所述平面反射镜上,所述光栅像经过所述平面反射镜反射后通过所述主镜、所述次镜、所述折转反射镜、所述透镜组及所述焦平面反射镜反射后经由所述光栅照射在所述光敏元件上,所述俯角电机带动所述主光学系统绕垂直于光轴平面的轴作往复摆动,根据所述光敏元件检测到光能量强度控制所述调焦电机带动焦平面沿光轴前后移动直至所述光能量强度最大。
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