[发明专利]一种半导体光电材料瞬态光电流测量系统及测量方法有效
| 申请号： | 201710819596.1 | 申请日： | 2017-09-13 |
| 公开（公告）号： | CN107621567B | 公开（公告）日： | 2020-12-29 |
| 发明（设计）人： | 谢腾峰;孟德栋;张凯;步琦璟;毕玲玲 | 申请（专利权）人： | 吉林大学 |
| 主分类号： | G01R19/25 | 分类号： | G01R19/25;G01R13/02 |
| 代理公司： | 长春吉大专利代理有限责任公司 22201 | 代理人： | 刘世纯;王恩远 |
| 地址： | 130012 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 一种半导体光电材料瞬态光电流测量系统，属于光电化学分解水测量技术领域。由Nd：YAG激光器、数字示波器、前置放大器、锁相放大器、样品池组成；样品池由聚四氟乙烯外壳、石英工作窗口、工作电极、参比电极、对电极和电解液组成；石英工作窗口设置在聚四氟乙烯外壳上，工作电极、对电极和参比电极呈斜三角形布置放入样品池并浸泡在电解液中。来自Nd：YAG激光器的激光透过石英工作窗口和电解液照射到工作电极的光电材料薄膜上，前置放大器捕捉工作电极和对电极间的光电流信号，将信号放大后输入到数字示波器，从而实现对半导体光电材料瞬态光电流的测量，光电流强度越强表明光电材料的分解水性能越强。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 光电 材料 瞬态 电流 测量 系统 测量方法 | ||
【主权项】：
一种半导体光电材料瞬态光电流测量系统，其特征在于：由Nd：YAG激光器(1)、数字示波器(2)、前置放大器(3)、锁相放大器(4)、样品池(5)组成；样品池(5)由聚四氟乙烯外壳(6)、石英工作窗口(7)、工作电极(8)、参比电极(9)、对电极(10)和电解液(11)组成，石英工作窗口(7)设置在聚四氟乙烯外壳(6)上，工作电极(8)、对电极(10)和参比电极(9)呈斜三角形布置放入样品池(5)并浸泡在电解液(11)中；Nd：YAG激光器(1)参比信号输出通道通过BNC数据线与数字示波器(2)触发输入通道连接，数字示波器(2)测量输入通道通过BNC数据线与前置放大器(3)信号输出通道连接，前置放大器(3)信号输入通道通过BNC数据线与样品池(5)工作电极(8)和对电极(10)连接，锁相放大器(4)通过BNC数据线与样品池(5)工作电极(8)和参比电极(9)连接；来自Nd：YAG激光器(1)的激光透过石英工作窗口(7)和电解液(11)照射到工作电极(8)的光电材料薄膜上，前置放大器(3)捕捉工作电极(8)和对电极(10)间的光电流信号，将信号放大后输入到数字示波器(2)，从而实现对半导体光电材料瞬态光电流的测量。
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