[发明专利]一种基于惠斯顿电桥结构的压力传感器及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201710826236.4 申请日: 2017-09-14
公开(公告)号: CN107732001B 公开(公告)日: 2020-05-12
发明(设计)人: 谭鑫;才智;冯志红;吕元杰;王元刚;宋旭波;周幸叶;房玉龙;顾国栋 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十三研究所
主分类号: H01L41/04 分类号: H01L41/04;H01L41/113;H01L41/18;H01L41/22;H01L41/25
代理公司: 石家庄国为知识产权事务所 13120 代理人: 米文智
地址: 050051 *** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明公开了一种基于惠斯顿电桥结构的压力传感器及其制造方法,涉及半导体压力传感器技术领域;包括键合晶圆、键合介质、衬底、缓冲层、势垒层、金属导线、势垒层、空腔和欧姆电极,缓冲层5材料为氮化镓,势垒层6材料为InxAlyGa1‑x‑yN;保证电阻的稳定性,制备方法简单,提高产品制作精度,可用于高温环境。
搜索关键词: 一种 基于 惠斯顿 电桥 结构 压力传感器 及其 制造 方法
【主权项】:
一种基于惠斯顿电桥结构的压力传感器,包括键合晶圆11、键合介质10、衬底4、缓冲层5、金属导线9、势垒层6、空腔3和欧姆电极8,其特征在于:所述缓冲层5材料为氮化镓;势垒层材料为InxAlyGa1‑x‑yN多元化合物。
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