[发明专利]存储器测试模块的电压检测方法有效
申请号: | 201710826559.3 | 申请日: | 2017-09-14 |
公开(公告)号: | CN109507472B | 公开(公告)日: | 2021-03-26 |
发明(设计)人: | 蔡闽勋;张家维 | 申请(专利权)人: | 佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司;神云科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R19/165 | 分类号: | G01R19/165;G01R13/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 528308 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种存储器测试模块的电压检测方法,包括:读取预设测试条件;调整测试输入信号以符合预设测试条件;在扫描期间,将测试输入信号的频率与工作周期调整至各测试频率与各测试工作周期;判断存储器测试模块的电压输出信号在扫描期间的最大电压值以及最小电压值;判断电压输出信号于扫描期间的最大电压值时,测试输入信号所对应的第一频率与第一工作周期;判断电压输出信号于扫描期间的最小电压值时,输入信号所对应的第二频率与第二工作周期;以及纪录第一、第二频率以及第一、第二工作周期。 | ||
搜索关键词: | 存储器 测试 模块 电压 检测 方法 | ||
【主权项】:
1.一种存储器测试模块的电压检测方法,其特征在于:透过一检测模块来检测安装于一待测主板上的一存储器测试模块,上述检测模块包括一讯号产生器以及一示波器,且上述讯号产生器用以产生一输入信号至上述存储器测试模块的一信号输入节点,上述示波器用以接收上述存储器测试模块的至少一电压输出信号并产生波形图,上述存储器测试模块的电压检测方法包括透过一测试主机板执行以下步骤:读取一预设测试条件,且上述预设测试条件至少包括一最小测试电流值、一最大测试电流值、若干个测试工作周期范围以及若干个测试频率范围;根据上述预设测试条件来调整上述输入信号的波谷电压值与波峰电压值以使上述信号输入节点的输入电流的波谷电流值与波峰电流值符合上述最小测试电流值以及上述最大测试电流值;在一扫描期间,将上述输入信号的频率与工作周期调整至各上述测试频率与上述预设测试条件中所包括的各个上述测试工作周期;判断上述电压输出信号在上述扫描期间的最大电压值以及最小电压值;根据上述电压输出信号于上述扫描期间的最大电压值,决定上述输入信号所对应的一第一频率与一第一工作周期;根据上述电压输出信号于上述扫描期间的最小电压值,决定上述输入信号所对应的一第二频率与一第二工作周期;以及纪录上述第一频率、上述第一工作周期、上述第二频率以及上述第二工作周期。
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