[发明专利]一种消除Hadamard离子迁移谱基线漂移失真方法在审
申请号: | 201710827020.X | 申请日: | 2017-09-14 |
公开(公告)号: | CN107478710A | 公开(公告)日: | 2017-12-15 |
发明(设计)人: | 洪炎;苏静明;姚善化;胡业林 | 申请(专利权)人: | 安徽理工大学 |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 232001 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种消除Hadamard离子迁移谱基线漂移失真方法,该发明针对传统Hadamard离子迁移谱存在基线漂移现象问题,提出一种校正方法,该方法首先利用判别模块对生成的Hadamard叠加谱数据进行判定,得出是否需校正的判定结果,根据判定结果对逆变换谱进行校正处理。该方法保证得到的Hadamard离子迁移谱与信号平均法得到的迁移谱基线均值一致,不会存在较大偏差,消除基线漂移失真现象,保障了Hadamard脉冲分离技术的准确性和稳定性,提高了Hadamard离子迁移谱的综合检测性能。 | ||
搜索关键词: | 一种 消除 hadamard 离子 迁移 基线 漂移 失真 方法 | ||
【主权项】:
一种消除Hadamard离子迁移谱基线漂移失真方法,它包括离子门1,Hadamard多路复用门控模块2,迁移区3,离子探测区4,多路复用数据采集模块5,基线判别模块6,逆Hadamard变换模块7,校正模块8。所述离子门1负责对反应离子及产物离子的开关控制,所述Hadamard多路复用门控模块,负责对所述离子门1的多路开关控制,实现离子峰的哈达玛变换控制,所述迁移区3为离子运动提供稳定的迁移电场,并引导离子到达离子探测区4,所述离子探测区4利用法拉第板和检流计完成离子电荷向电流信号的转化和信号放大,所述多路复用数据采集模块5完成哈达玛多路复用叠加谱数据的周期采集。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于安徽理工大学,未经安徽理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710827020.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。