[发明专利]一种测试光电经纬仪在外场时的调制传递函数的方法有效
| 申请号： | 201710828490.8 | 申请日： | 2017-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN107782279B | 公开（公告）日： | 2019-09-10 |
| 发明（设计）人： | 张宁;叶露;宋莹;沈湘衡 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01C1/02 | 分类号： | G01C1/02;G01C25/00 |
| 代理公司： | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人： | 赵勍毅 |
| 地址： | 130033 吉林省长春*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开一种基于多元线性回归模型反演计算光电经纬仪在外场时的调制传递函数(MTF)的方法，该方法通过在实验室测试目标模拟源获取建立多元线性回归模型的因变量和自变量，再采用最小二乘法计算获得多元线性回归模型中的回归系数及常量；在外场环境中，将光电经纬仪所获取图像的图像特征清晰度向量作为多元线性回归模型中的自变量，代入多元线性回归模型中即可计算得到此时外场环境下的调制传递函数。本发明实施例解决了外场环境下无法测试光电经纬仪的调制传递函数的问题，将该方法获取的调制传递函数反馈至光电经纬仪的补偿机构，可有效地提高成像质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 光电 经纬仪 外场 调制 传递函数 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于测试光电经纬仪在外场时的调制传递函数的方法，其特征在于，所述方法包括：在实验室环境中，光电经纬仪对模拟目标源进行多次成像，获取多组第一特征参数和第二特征参数；利用所述第一特征参数和第二特征参数建立多元线性回归模型，并计算所述多元线性回归模型中的回归系数及常数项；在外场环境中，光电经纬仪对外场目标进行成像，获取此时相应的第二特征参数；将此时相应的第二特征参数代入所述多元线性回归模型中，计算获得外场的调整传递函数；其中，所述第一特征参数为调制传递函数，所述第二特征参数为图像清晰度向量。
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