[发明专利]一种射频拉远单元自体老化测试方法及系统

摘要

本发明公开了一种射频拉远单元自体老化测试方法及系统，设置老化测试模式设置装置、待老化RRU和功率负载，待老化RRU中设置老化测试软件模块，通过老化测试模式设置装置设置待老化RRU进入老化测试模式，然后基于老化测试软件模块执行产生一个时钟参考信号，将测试用数据源文件载入，并产生时隙切换控制号，配置AXC数据，打开射频通道和工作状态监控任务，将基带数据源数据经下行链路射频输出口输出到功率负载，进行老化测试数据记录，判断RRU老化测试通过与否。本发明可以实现射频拉远单元的批量老化，采用自体老化方式，大大简化了射频拉远单元老化系统的复杂度，实现产能的提高，具有重要的市场价值。

主权项

一种射频拉远单元自体老化测试方法，其特征在于：设置老化测试模式设置装置、待老化RRU和功率负载，待老化RRU中设置老化测试软件模块，RRU为射频拉远单元；待老化RRU连接功率负载，老化测试模式设置装置接入待老化RRU的调试串口；通过老化测试模式设置装置设置待老化RRU进入老化测试模式，然后基于老化测试软件模块执行以下处理，检测判断待老化RRU是否进入老化测试模式；在RRU通过老化测试模式设置单元进入老化测试模式后，产生一个时钟参考信号给RRU单板的时钟芯片，提供工作时钟；将测试用数据源文件从待老化RRU的闪存存储器载入到待老化RRU的数据发送模块，并根据载入的数据源类型信息产生时隙切换控制信号；在数据源产生以后，将待老化RRU的相关模块进行初始化，然后配置AXC数据，打开射频通道和工作状态监控任务，将基带数据源数据经下行链路射频输出口输出到功率负载，进行老化测试数据记录；根据老化测试记录的数据信息，统计RRU老化测试的功率信息，状态监控信息和状态告警信息，综合判断RRU老化测试通过与否，并支持通过待老化RRU的调试网口导出老化测试记录。