[发明专利]增进效能的垂直装置及其形成方法有效

专利信息
申请号: 201710832240.1 申请日: 2017-09-15
公开(公告)号: CN108074982B 公开(公告)日: 2021-09-10
发明(设计)人: E·J·诺瓦克;R·R·罗比森;B·A·安德森 申请(专利权)人: 格芯(美国)集成电路科技有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L27/092;H01L21/336
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人: 程伟;王锦阳
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及增进效能的垂直装置及其形成方法,揭示数种增进效能的垂直装置(例如,垂直场效晶体管(FET)或并入垂直FET的互补金属氧化物半导体(CMOS)装置)及形成此类装置的方法。带应变介电层横向毗邻垂直FET的栅极,这增加该通道区内的电荷载子移动率且改善效能。在垂直n型FET(NFET)中,应变为压缩型以改善垂直NFET内的电流方向所给定的电子移动率;然而,在垂直p型FET(PFET)中,应变为拉伸型以改善在垂直PFET内的电流方向所给定的空穴移动率。可选择地,垂直FET相对于它形成于其上的半导体晶圆的表面平面的取向也针对最佳电荷载子移动率加以预先计画成为FET的类型(亦即,NFET或PFET)的函数,且从而增强效能。
搜索关键词: 增进 效能 垂直 装置 及其 形成 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于格芯(美国)集成电路科技有限公司,未经格芯(美国)集成电路科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710832240.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top