[发明专利]基于推扫式光谱成像仪的光谱分类器及分类方法在审
申请号: | 201710844657.X | 申请日: | 2017-09-19 |
公开(公告)号: | CN107590472A | 公开(公告)日: | 2018-01-16 |
发明(设计)人: | 吴银花;胡炳樑;高晓惠;周安安;魏儒义;王爽;冷寒冰 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00;G06K9/62 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司61211 | 代理人: | 杨引雪 |
地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 为了解决现有成像光谱技术其重构后数据立方体数据量过大致使数据传输、存储和处理系统的负荷大幅增加的技术问题,本发明提供了一种基于推扫式光谱成像仪的光谱分类器及分类方法。光谱分类器包括推扫型光谱成像仪、空间光调制器、控制器、探测器、信号处理模块;空间光调制器根据控制器输出的数字电压信号对推扫型光谱成像仪分光后光谱进行调制;探测器用于进行当前行目标像元的特征提取;信号处理模块用于对当前行目标像元进行分类判断,输出分类结果。本发明将分类算法直接应用于推扫型光谱成像仪内分光后光谱,实现光谱分类,无需重构数据立方体便能直接输出分类结果,可有效避免当前面临的大数据量问题。 | ||
搜索关键词: | 基于 推扫式 光谱 成像 分类 方法 | ||
【主权项】:
基于推扫式光谱成像仪的光谱分类器,其特征在于,包括推扫型光谱成像仪、空间光调制器、控制器、探测器、信号处理模块;所述推扫型光谱成像仪用于对一行目标像元进行扫描、色散,形成按波长顺序排列的分光后光谱,该分光后光谱投射到所述空间光调制器上;所述空间光调制器根据所述控制器输出的数字电压信号对所述分光后光谱进行调制;所述数字电压信号为通过线性判别分析算法将数据立方体的光谱空间投影到N‑1维特征空间所获得的投影矩阵中特征向量的量化值,由所述控制器根据所述特征向量的特征值从大到小依次输出;N为已知光谱的类别数;所述探测器用于接收所述空间光调制器调制后的光信息,进行当前行目标像元的特征提取;所述信号处理模块接收所述探测器输出的特征信息,对当前行目标像元进行分类判断,输出分类结果。
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