[发明专利]辐射检查系统及方法在审
| 申请号： | 201710846150.8 | 申请日： | 2017-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN107479102A | 公开（公告）日： | 2017-12-15 |
| 发明（设计）人： | 闫雄;刘铮;曹艳锋;李苏祺;胡晓伟 | 申请（专利权）人： | 北京君和信达科技有限公司 |
| 主分类号： | G01V5/00 | 分类号： | G01V5/00 |
| 代理公司： | 北京展翼知识产权代理事务所(特殊普通合伙)11452 | 代理人： | 屠长存 |
| 地址： | 100088 北京市西*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种辐射检查系统及方法。扫描装置用于向检测区域发射扫描射线束；探测器用于接收从检测区域中的被检测物体透射或散射的成像射线束；不同工作模式下衰减装置对扫描装置发射的不同部分的扫描射线束的强度进行衰减；第一信息获取装置用于获取被检测物体的特征部位分别经过检测区域的时刻信息；控制装置用于在被检测物体的检测规避部分的前沿到达检测区域时，控制衰减装置对扫描装置发射的扫描射线束中入射到检测规避部分的目标扫描射线束的强度进行衰减，以使得检测规避部分的吸收剂量率低于预设阈值。由此，在保证检测规避部分不受高强度辐射的情况下，还不影响对被检测物体上的非检测规避部分(即待检测部分)的正常检测。 | ||
| 搜索关键词： | 辐射 检查 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种辐射检查系统，用于对沿着辐射检查通道限定的行进方向行进的被检测物体进行辐射检查，其中，所述被检测物体包括待检测部分和检测规避部分，该系统包括：扫描装置，设置在辐射检查通道内的辐射检查位置处，用于向检测区域发射扫描射线束；一个或多个探测器，设置在所述辐射检查通道内的第一预定位置，用于接收从所述检测区域中的被检测物体透射或散射的成像射线束；衰减装置，具有多种工作模式，不同工作模式下所述衰减装置对所述扫描装置发射的不同部分的扫描射线束的强度进行衰减；第一信息获取装置，用于获取所述被检测物体的一个或多个特征部位分别经过所述检测区域的时刻信息，其中，所述一个或多个特征部位至少包括所述检测规避部分的前沿；以及控制装置，用于在所述被检测物体的检测规避部分的前沿到达所述检测区域时，控制所述衰减装置对所述扫描装置发射的扫描射线束中入射到所述检测规避部分的目标扫描射线束的强度进行衰减，以使得所述检测规避部分的吸收剂量率低于预设阈值。
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