[发明专利]一种霍尔线圈和基于霍尔线圈的霍尔产品测试线圈装置及测试方法有效
申请号: | 201710846833.3 | 申请日: | 2017-09-19 |
公开(公告)号: | CN107377424B | 公开(公告)日: | 2023-05-23 |
发明(设计)人: | 李国祥 | 申请(专利权)人: | 长电科技(滁州)有限公司 |
主分类号: | B07C5/344 | 分类号: | B07C5/344 |
代理公司: | 安徽知问律师事务所 34134 | 代理人: | 侯晔 |
地址: | 239000 安徽省滁州市经济*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公开了一种霍尔线圈和基于霍尔线圈的霍尔产品测试线圈装置及测试方法,属于芯片测试技术领域。本发明的霍尔线圈包括工字形支架及包覆在工字形支架中间部分的漆包线卷,工字形支架一端为环台,环台中心处为圆形凹槽;圆形凹槽的中心处为圆形通孔。霍尔产品测试线圈装置包括霍尔线圈、项圈、基座和霍尔测试片;基座为圆环形,嵌入圆形凹槽内,基座中间为方形的项圈定位孔,项圈嵌入项圈定位孔内;霍尔测试片固定于基座的上表面,形成霍尔测试片和霍尔活动夹的定位及固定装置,以保证待测产品在稳定的磁场内有稳定的测试平台。本发明解决了芯片测试过程中,霍尔线圈在测试区的磁场不够稳定、测得的高斯量最大与最小之差值很大的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 霍尔 线圈 基于 产品 测试 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种霍尔线圈,其特征在于,包括工字形支架(12)及包覆在工字形支架(12)中间部分的漆包线卷(11),所述工字形支架(12)一端为环台(121),环台(121)中心处为圆形凹槽(124);所述圆形凹槽(124)的中心处为圆形通孔(123)。
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