[发明专利]一种低温共烧陶瓷基板空腔结构的制备方法有效
申请号: | 201710847497.4 | 申请日: | 2017-09-19 |
公开(公告)号: | CN107591336B | 公开(公告)日: | 2019-11-15 |
发明(设计)人: | 马名生;林琳;刘志甫;李永祥 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48 |
代理公司: | 31261 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) | 代理人: | 姚佳雯;邹蕴<国际申请>=<国际公布>= |
地址: | 200050上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明的低温共烧陶瓷基板空腔结构的制备方法,具备如下步骤:将LTCC生瓷带切割成LTCC生瓷片,然后将切割好的多片LTCC生瓷片依次进行第一阶段叠层,从而分别形成上层盖板、子层板和下层板;将子层板与下层板进行第二阶段叠层,从而形成合层板;将上层盖板和合层板进行第三阶段叠层,从而形成带有空腔结构的LTCC巴块;对LTCC巴块进行切割后得到LTCC基板素坯,然后将LTCC基板素坯进行烧结;第三阶段叠层的工艺中的叠层压力、温度和时间均小于第一和第二阶段叠层的工艺中的参数。根据本发明,极大降低了带有空腔结构的低温共烧陶瓷基板的制造成本,有利于低温共烧陶瓷基板空腔结构的批量化生产。 | ||
搜索关键词: | 一种 低温 陶瓷 空腔 结构 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种低温共烧陶瓷基板空腔结构的制备方法,具备如下步骤:/n步骤一,将LTCC生瓷带切割成LTCC生瓷片,然后将切割好的多片所述LTCC生瓷片依次进行第一阶段叠层,从而分别形成上层盖板和下层板;另对所述LTCC生瓷片进行打孔,然后将打好孔的多片所述LTCC生瓷片依次进行第一阶段叠层,从而形成带有空腔结构的子层板;/n步骤二,将所述子层板与所述下层板进行第二阶段叠层,从而形成合层板,在该叠层过程中,所述带有空腔结构的子层板位于所述下层板的上方;/n步骤三,将所述上层盖板和所述合层板进行第三阶段叠层,从而形成带有空腔结构的LTCC巴块;/n步骤四,对所述LTCC巴块进行切割后得到LTCC基板素坯,然后将所述LTCC基板素坯进行烧结;/n在上述步骤一至步骤三中,/n所述第一和第二阶段叠层采用相同工艺条件,所述第一和第二阶段叠层的工艺中,叠层压力为3~5 MPa,叠层温度为55~65℃,叠层时间为90~150秒;/n所述第三阶段叠层的工艺中的叠层压力、温度和时间均小于所述第一和第二阶段叠层的工艺中的参数,所述第三阶段叠层的工艺中,叠层压力为1~3 MPa,叠层温度为50~60℃,叠层时间为30~90秒;/n采用叠片机完成所述第一阶段叠层、第二阶段叠层、第三阶段叠层所有层压步骤。/n
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造