[发明专利]在JTAG接口中的组合串行和并行测试访问端口选择有效
| 申请号： | 201710847649.0 | 申请日： | 2017-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN109425824B | 公开（公告）日： | 2021-02-12 |
| 发明（设计）人： | V·N·斯里尼瓦桑;M·沙玛 | 申请（专利权）人： | 意法半导体国际有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 王茂华;董典红 |
| 地址： | 荷兰阿*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请涉及在JTAG接口中的组合串行和并行测试访问端口选择。电路用于将测试访问端口(TAP)信号耦合到集成电路封装中的联合测试动作组(JTAG)接口。nTRST引脚接收测试复位信号，TMS引脚接收测试模式选择信号，测试用测试访问端口(TAP)具有测试复位信号输入和测试模式选择信号输入，以及调试用测试访问端口(TAP)具有耦合到nTRST引脚的测试复位信号输入和耦合到TMS引脚的测试模式选择信号输入。反相器具有耦合到nTRST引脚的输入和耦合到测试用TAP的测试复位信号输入的输出，并且与门具有耦合到反相器的输出的第一输入、耦合到TMS引脚的第二输入、以及耦合到测试用TAP的测试模式选择输入的输出。 | ||
| 搜索关键词： | jtag 接口 中的 组合 串行 并行 测试 访问 端口 选择 | ||
【主权项】：
1.一种用于将测试访问端口(TAP)信号耦合到集成电路封装中的联合测试动作组(JTAG)接口的电路，所述电路包括：nTRST引脚，被配置为接收测试复位信号；TMS引脚，被配置为接收测试模式选择信号；测试用测试访问端口(TAP)，具有测试复位信号输入和测试模式选择信号输入；调试用测试访问端口(TAP)，具有耦合到所述nTRST引脚的测试复位信号输入和耦合到所述TMS引脚的测试模式选择信号输入；反相器，具有耦合到所述nTRST引脚的输入和耦合到所述测试用TAP的所述测试复位信号输入的输出；和与门，具有耦合到所述反相器的所述输出的第一输入、耦合到所述TMS引脚的第二输入和耦合到所述测试用TAP的测试模式选择输入的输出。
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