[发明专利]在对试样进行热分析时用于校准调温的方法

摘要

本发明涉及用于校准对试样(P1至P4)进行热分析的设备(10)的方法。根据本发明的方法包括：借助设备(10)的光热测量装置(18、20、22)在一个确定的试样上或在多个同种类的试样上进行光热测量，该一个确定的试样为此依次地保持在设备(10)的多个试样保持件(14‑1至14‑4)中并且分别进行光热测量，或多个同种类的试样为此保持在多个保持件(14‑1至14‑4)中的各其中一个中并且分别进行光热测量，其中，在光热测量时分别以电磁激励脉冲照射相关试样的第一侧，并且检测由于激励脉冲而从该试样的与第一侧相对的第二侧发出的热辐射；比较多个试样保持件(14‑1至14‑4)的光热测量的结果；基于比较结果，为每个试样保持件(14‑1至14‑4)分别得出至少一个修正参数；以及基于得出的修正参数对设备(10)的温度测量装置(26‑1至26‑4)和/或设备(10)的调温装置(16‑1至16‑4)进行校准。

主权项

用于校准对试样进行热分析的设备(10)的方法，其中，所述设备(10)包括：‑具有多个试样保持件(14‑1至14‑4)的试样腔室(12)，所述试样保持件分别构造成用于保持试样(P1至P4)，‑为所述多个试样保持件(14‑1至14‑4)中的每一个设置与其对应的能操控的调温装置(16‑1至16‑4)以用于对由所述试样保持件(14‑1至14‑4)保持的试样(P1至P4)进行调温，‑用于测量所述试样(P1至P4)的温度的温度测量装置(26‑1至26‑4)，‑光热测量装置(18、20、22)，其用于以电磁激励脉冲照射试样(P1至P4)的第一侧并且用于检测由于激励脉冲而从所述试样(P1至P4)的与第一侧相对的第二侧发出的热辐射，‑用于操控调温装置(16‑1至16‑4)和光热测量装置(18、20、22)并且用于记录测量数据的控制和评估装置(30)，所述测量数据表示试样(P1至P4)的与试样(P1至P4)的温度不同的、与试样温度相关的至少一个物理特性，其特征在于，用于校准的方法包括：‑借助所述光热测量装置(18、20、22)在一个确定的试样上或在多个同种类的试样上进行光热测量，‑所述一个确定的试样为此依次地保持在多个试样保持件(14‑1至14‑4)中并且分别进行光热测量，或‑所述多个同种类的试样为此保持在多个保持件(14‑1至14‑4)中的各其中一个中并且分别进行光热测量，其中，在光热测量时分别以电磁激励脉冲照射相关试样的第一侧，并且检测由于激励脉冲而从所述试样的与第一侧相对的第二侧发出的热辐射，‑比较多个试样保持件(14‑1至14‑4)的光热测量的结果，‑基于比较结果，为每个试样保持件(14‑1至14‑4)分别得出至少一个修正参数，‑基于得出的修正参数对所述温度测量装置(26‑1至26‑4)和/或所述调温装置(16‑1至16‑4)进行校准。