[发明专利]显示器的芯片测试装置以及具有其的显示器有效
| 申请号： | 201710851112.1 | 申请日： | 2017-09-20 |
| 公开（公告）号： | CN107393455B | 公开（公告）日： | 2020-08-28 |
| 发明（设计）人： | 黄炯;汪祥;李朋 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;合肥京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 张润 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种显示器的芯片测试装置以及具有其的显示器，装置包括：M条测试走线，每条测试走线穿插设置于芯片上的N条待测信号线，其中，当测试走线正对处于芯片的第一膜层的待测信号线时，测试走线设置于芯片的第二膜层，当测试走线正对处于第二膜层的待测信号线时，测试走线设置于第一膜层，每条测试走线用于接收至少一条待测信号线上的信号；N个开关单元，N个开关单元的第一端分别与N条待测信号线对应相连，每个开关单元的第二端连接于M条测试走线中任一条，每个开关单元用于控制对应的待测信号线与对应的测试走线连通；控制单元，用于对N个开关单元进行控制，从而，能够快速有效的测量出所需的信号，提高信号测量的准确性及有效性。 | ||
| 搜索关键词： | 显示器 芯片 测试 装置 以及 具有 | ||
【主权项】：
一种显示器的芯片测试装置，其特征在于，包括：M条测试走线，每条测试走线穿插设置于芯片上的N条待测信号线，其中，当所述测试走线正对处于所述芯片的第一膜层的待测信号线时，所述测试走线设置于所述芯片的第二膜层，当所述测试走线正对处于第二膜层的待测信号线时，所述测试走线设置于第一膜层，每条测试走线用于接收至少一条待测信号线上的信号，其中，M、N均为大于1的整数，且M小于等于N；N个开关单元，所述N个开关单元的第一端分别与N条待测信号线对应相连，每个开关单元的第二端连接于所述M条测试走线中任一条，每个开关单元用于控制对应的待测信号线与对应的测试走线连通；控制单元，所述控制单元用于对所述N个开关单元进行控制，并通过控制开关单元导通以将对应的待测信号线上的信号导入到相应的测试走线。
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