[发明专利]用于消除白光干涉仪干涉信号二阶伪耦合点的方法有效
申请号: | 201710854493.9 | 申请日: | 2017-09-20 |
公开(公告)号: | CN107764517B | 公开(公告)日: | 2020-02-07 |
发明(设计)人: | 张红霞;温国强;王宇瑶;贾大功;刘铁根;张以谟 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 12201 天津市北洋有限责任专利代理事务所 | 代理人: | 程毓英 |
地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | 本发明涉及一种用于消除白光干涉仪干涉信号二阶伪耦合点的方法,针对采用白光干涉法对保偏光纤偏振耦合效应进行测量的实验装置而提出,所述的实验装置包括光源模块、检偏器和迈克尔逊干涉仪,在检偏器之前添加延时模块,的延时模块包括偏振分束棱镜、可调光延迟线和偏振合束棱镜三部分,偏振分束棱镜的入射端与保偏光纤熔在一起,快轴与快轴对准,慢轴与慢轴对准。偏振分束棱镜将保偏光纤中一束两个偏振方向的光在空间上分成两束线偏振光,使得原慢轴上传播的光经过可调光延迟线,通过设置可调光延迟线的延迟量,实现快轴传播模式和慢轴传播模式光程差的调节,将两种模式在时域上分开,从而避免二阶伪耦合点的产生。 | ||
搜索关键词: | 用于 消除 白光 干涉仪 干涉 信号 二阶伪 耦合 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于消除白光干涉仪干涉信号二阶伪耦合点的方法,针对采用白光干涉法对保偏光纤偏振耦合效应进行测量的实验装置而提出,所述的实验装置包括光源模块、检偏器和迈克尔逊干涉仪,光源发出的光,经过起偏器后变为线偏振光,线偏振光与保偏光纤的某一个主轴对准入射并沿其传播,保偏光纤输出的光经过检偏器后送入迈克尔逊干涉仪,其特征在于,在检偏器之前添加延时模块,/n所述的延时模块包括偏振分束棱镜、可调光延迟线和偏振合束棱镜三部分,偏振分束棱镜的入射端与保偏光纤熔在一起,快轴与快轴对准,慢轴与慢轴对准;偏振分束棱镜将保偏光纤中一束两个偏振方向的光在空间上分成两束线偏振光,使得原慢轴上传播的光经过可调光延迟线,通过设置可调光延迟线的延时偏置量,实现快轴传播模式和慢轴传播模式光程差的调节,将两种模式在时域上分开,从而避免二阶伪耦合点的产生,然后通过偏振合束棱镜将两束光汇聚到同一根光纤里,可调光延迟线延时偏置量的设定分如下两种情况:/n(1)当保偏光纤上本征耦合点的位置已知时,设有N个本征耦合点,且本征耦合点之间的距离分别为L
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