[发明专利]一种基于锁相放大器的光电探测组件电源抑制比测试系统有效

专利信息
申请号: 201710855308.8 申请日: 2017-09-20
公开(公告)号: CN107764285B 公开(公告)日: 2021-02-02
发明(设计)人: 潘雄;宋舒雯;张少博;王磊 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00;G01C19/72
代理公司: 北京永创新实专利事务所 11121 代理人: 赵文颖
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于锁相放大器的光电探测组件电源抑制比测试系统,用于实现对光电探测组件的电源抑制比参数的测量。该测试系统由三部分组成,分别为噪声注入加法电路、光电探测组件(PIN‑FET组件)(待测器件)以及相关检测电路构成。其中,噪声注入加法电路用于在光电探测组件的直流供电端注入交流噪声,光电探测组件为待测量的器件,相关检测电路位于锁相放大器内部,用于检测并解调出光电探测组件信号输出端与注入噪声同频的信号幅值大小。
搜索关键词: 一种 基于 放大器 光电 探测 组件 电源 抑制 测试 系统
【主权项】:
一种基于锁相放大器的光电探测组件电源抑制比测试系统,其特征在于,包括噪声注入加法电路模块、光电探测组件和锁相放大器;噪声注入加法电路模块模拟电源噪声注入,输出端接光电探测组件的+5V/‑5V电源电压输入端,光电探测组件的输出端接入锁相放大器的信号输入端作输入信号,噪声注入加法电路模块中的信号发生器的输出端接入锁相放大器的参考信号端,锁相放大器解调光电探测组件的输出信号中与噪声注入加法电路模块注入的交流信号同频的交流噪声大小,此噪声即为电源噪声经过光电探测组件的噪声。
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