[发明专利]阶梯加热红外热波技术测量厚度的方法有效
| 申请号： | 201710857482.6 | 申请日： | 2017-09-20 |
| 公开（公告）号： | CN107504911B | 公开（公告）日： | 2019-08-27 |
| 发明（设计）人： | 陶宁;孙建刚;李晓丽;沈京玲;冯立春;张存林 | 申请（专利权）人： | 首都师范大学 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06;G01J5/00 |
| 代理公司： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人： | 孙皓晨 |
| 地址： | 100037 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种使用阶梯加热红外热波技术测量材料厚度的方法，包括如下步骤：利用持续的低能量密度的热激励源加热试件表面，同时使用红外热像仪获得被测物体表面的热图序列；将所述热图序列的温度变化数据存储在通用存储器中；对所述红外热像仪所采集的温度变化数据处理，求取每一点的升温曲线；将所述升温曲线与理论公式拟合，进而求得厚度。本发明通过持续加载低热流密度的能量，使被测物缓慢升温，利用非线性拟合的方法，最终达到测量厚度的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 阶梯 加热 红外 技术 测量 厚度 方法 | ||
【主权项】：
1.一种使用阶梯加热红外热波技术测量材料厚度的方法，其特征在于，包括如下步骤：利用持续的低能量密度的热激励源加热试件表面，同时使用红外热像仪获得被测物体表面的热图序列；将所述热图序列的温度变化数据存储在通用存储器中；对所述红外热像仪所采集的温度变化数据处理，求取每一点的升温曲线；将所述升温曲线与理论公式拟合，进而求得厚度；其中，所述热激励源与所述红外热像仪在试件表面的同侧或者异侧；其中，当所述热激励源与所述红外热像仪在所述试件表面异侧时，所述红外热像仪探测到的温度为G(0,t)，![]()
对于透射式检测，将所述红外热像仪采集到的每个像素点的实验数据与公式(5)进行非线性拟合，得到该点最优的A和q值，其中，A和q为拟合值，根据FL/k＝A，α/L2＝q，即求得厚度L，其中，F为热流密度，L为试件总厚度，k为热导率，α为热扩散系数。
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