[发明专利]应变片外观缺损检测方法

摘要

本发明公开了一种应变片外观缺损检测方法，采集应变片图像，对图像进行预处理，得出预处理后的应变片图像；并提取其中的应变片感兴趣区域；对应变片感兴趣区域进行预检测，分割出丝栅头，并得到丝栅头的坐标信息及数量信息，若预检测的应变片的丝栅头数量与标准无损的应变片丝栅头的数量相同，则继续检测，否则，返回产品为不合格品并保存；根据丝栅头坐标信息及应变片尺寸设计信息，得出去除了丝栅区的图像，并通过去除了丝栅区的图像，分割得到焊接区图像；对得到的丝栅区域图像和焊接区图像进行缺损检测，并根据检测结果判定应变片为合格品或不合格品；本发明解决了目前企业中对应变片缺损检测的成本高、效率低、检测结果不稳定的问题。

主权项

一种应变片外观缺损检测方法，其特征在于，具体包括以下步骤：步骤一、通过图像采集系统对应变片进行图像采集，得出初始应变片图像Iorig；步骤二、对步骤一中的所述图像Iorig进行预处理，得出预处理后的应变片图像Ifilt；步骤三、根据步骤二中的图像Ifilt，提取其中的应变片感兴趣区域IROI；步骤四、对步骤三得到的应变片感兴趣区域IROI进行预检测，分割出丝栅头，并得到丝栅头的坐标信息及数量信息，若预检测的应变片的丝栅头数量与标准无损的应变片丝栅头的数量相同，则继续执行步骤五，否则，返回产品为不合格品并保存；步骤五、根据步骤四中得到的丝栅头坐标信息，分割得到丝栅区域图像；步骤六、根据步骤四中得到的丝栅头坐标信息及应变片尺寸设计信息，得出去除了丝栅区的图像，并通过所述去除了丝栅区的图像，分割得到焊接区图像；步骤七、对步骤五中得到的丝栅区域图像和步骤六中得出的焊接区图像进行缺损检测，并根据检测结果判定应变片为合格品或不合格品。