[发明专利]一种三维成像光子计数系统及其动态偏压控制方法有效
| 申请号： | 201710864804.X | 申请日： | 2017-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN107807364B | 公开（公告）日： | 2019-11-15 |
| 发明（设计）人： | 苏秀琴;汪书潮;李哲;郝伟;陈松懋;朱文华;夏爱利;张占鹏 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所;中国科学院大学 |
| 主分类号： | G01S17/89 | 分类号： | G01S17/89 |
| 代理公司： | 61211 西安智邦专利商标代理有限公司 | 代理人： | 唐沛<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
| 地址： | 710119陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种三维成像光子计数系统及其动态偏压控制方法，该系统包括总控制器、信号发生器、脉冲激光器、发射光学系统、接收光学系统、Gm‑APD阵列探测器、TCSPC时间相关光子计数器、信号处理单元、高压模块、温度传感器以及过载保护模块。本发明动态偏压控制方法是：设置初始偏压值V0、TCSPC时间相关光子计数器绘制直方图；信号处理单元解算直方图，获取当前偏压值V1；过载保护模块对实际偏压值V1进行监控，当实际偏压值V1小于探测器击穿电压，则将实际偏压值V1加载到Gm‑APD阵列探测器，当实际偏压值V1小于探测器击穿电压，过载保护模块发出报警信号，停止工作。本发明能够动态控制Gm‑APD阵列探测器进行探测工作，实现不同强度回波光信号自适应调节。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 三维 成像 光子 计数 系统 及其 动态 偏压 控制 方法 | ||
【主权项】：
1.一种三维成像光子计数系统，其特征在于：/n包括总控制器、信号发生器、脉冲激光器、发射光学系统、接收光学系统、Gm-APD阵列探测器、TCSPC时间相关光子计数器、信号处理单元、高压模块、温度传感器以及过载保护模块；/n总控制器的输入端与信号处理单元连接，总控制器的输出端分别与信号发生器输入端以及TCSPC时间相关光子计数器输入端连接；TCSPC时间相关光子计数器的输出端与信号处理单元的输入端连接；/n信号发生器信号输出端同时与TCSPC时间相关光子计数器输入端和脉冲激光器信号输入端连接；/n脉冲激光器发射的光依次经过发射光学系统、待测目标物体、接收光学系统后被Gm-APD阵列探测器接收；Gm-APD阵列探测器的输出端与TCSPC时间相关光子计数器的输入端连接；/n总控制器通过高压模块与Gm-APD阵列探测器连接用于改变Gm-APD阵列探测器的偏压的值；温度传感器贴覆在Gm-APD阵列探测器上，并将测得温度分别输出到总控制器以及过载保护模块；过载保护模块与高压模块连接用于实时监控着高压模块的输出电压。/n
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院西安光学精密机械研究所;中国科学院大学，未经中国科学院西安光学精密机械研究所;中国科学院大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201710864804.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
