[发明专利]一种远距离双天线指向校准方法和系统有效

专利信息
申请号: 201710865062.2 申请日: 2017-09-22
公开(公告)号: CN107806853B 公开(公告)日: 2020-03-24
发明(设计)人: 柏宏武;范百兴;刘博学;李丛;蒲理华;王欣宇;杨斌;李冬;姜蕊玲 申请(专利权)人: 西安空间无线电技术研究所
主分类号: G01C1/00 分类号: G01C1/00;G01C1/02;H01Q3/08
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 胡健男
地址: 710100 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明涉及一种远距离双天线指向校准的方法和系统,属于工程测量技术领域。本发明首先采用多经纬仪测量系统测量近距离天线上标志点的坐标值,采用全站仪测量系统测量远距离天线上标志点的坐标值;然后根据经纬仪系统和全站仪系统的相对定向和绝对定向将两系统的坐标系统一;再通过测量的标志点得到天线的指向;最后在统一的坐标系下计算两天线指向的夹角,对天线指向进行调整;由于指向夹角为空间夹角,调整时要将空间角分别在水平和竖直方向进行投影,以便对天线进行姿态的调整。本发明通过多经纬仪和全站仪联合测量系统,将相距较远的两个天线的指向统一到一个坐标系下,直接计算、调整两天线的指向,该方法简单易行。
搜索关键词: 一种 远距离 天线 指向 校准 方法 系统
【主权项】:
一种远距离双天线指向校准的方法,其特征在于步骤如下:(1)在空间布设多个经纬仪和一个全站仪,分别在近距离天线和远距离天线上设定能够反映各自指向的标志点;(2)设置定向点,定向点以空间均布方式分布于多个经纬仪和全站仪中间的区域;(3)多个经纬仪和全站仪之间两两互瞄,任意一条互瞄边的两台仪器瞄准基准尺,经纬仪和全站仪交会测量步骤(2)设定的定向点,解算完成各仪器相对定向和绝对定向,将多个经纬仪组成的测量系统和全站仪自身组成的全站仪测量系统的坐标系统一;采用多个经纬仪交会测量近距离天线上设定的标志点的坐标值采用全站仪测量远距离天线上设定的标志点的坐标值(4)根据步骤(3)多个经纬仪交会测得的近距离天线上的标志点坐标值和全站仪测得的远距离天线上的标志点坐标值通过远距离天线和近距离天线上设定的标志点,得到远距离天线和近距离天线的指向V1V2;(5)在步骤(3)统一的坐标系下,计算远距离天线和近距离天线指向的夹角,根据设定的夹角指标要求,对远距离天线和近距离天线的指向进行调整,使远距离天线和近距离天线指向的夹角满足夹角指标要求,完成校准。
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