[发明专利]电磁脉冲纳米半导体器件的电场分析方法有效

专利信息
申请号: 201710867706.1 申请日: 2017-09-22
公开(公告)号: CN109543205B 公开(公告)日: 2023-04-07
发明(设计)人: 何云峰;丁大志;姚猛;籍宇豪;陈如山 申请(专利权)人: 南京理工大学
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 薛云燕
地址: 210094 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种电磁脉冲纳米半导体器件的电场分析方法。该方法步骤如下:第一步,建立MOSFET的求解模型,并采用曲六面体对模型进行剖分,得到模型的结构信息,包括六面体的单元信息及节点信息;第二步,从载流子电流连续性方程、泊松方程和载流子量子修正方程出发,先用后向欧拉进行时间差分,然后对等式采用不连续伽辽金法测试,强加电场边界条件,求解得到各节点的电场及电流分布。本发明在相同计算量的前提下,可以更加清楚的得到在电磁脉冲和电压的作用下,器件内部电场随时间变化的分布情况,在获得相同收敛精度时,可以减少计算量,此外具有建模灵活、剖分方便的优点,形成的矩阵具有良好的稀疏性,求解效率较高。
搜索关键词: 电磁 脉冲 纳米 半导体器件 电场 分析 方法
【主权项】:
1.一种电磁脉冲纳米半导体器件的电场分析方法,其特征在于,步骤如下:第一步,建立MOSFET的求解模型,并采用曲六面体对模型进行剖分,得到模型的结构信息,包括六面体的单元信息及节点信息;第二步,从载流子电流连续性方程、泊松方程和载流子量子修正方程出发,先用后向欧拉进行时间差分,然后对等式采用不连续伽辽金法测试,强加电场边界条件,求解得到各节点的电场及电流分布。
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