[发明专利]低温光学系统能量集中度测试系统及方法有效
| 申请号： | 201710868278.4 | 申请日： | 2017-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN107796595B | 公开（公告）日： | 2019-08-09 |
| 发明（设计）人： | 林两魁;王少游;赵晓;郑京良;俞洁;陆国平 | 申请（专利权）人： | 上海卫星工程研究所 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 | 代理人： | 郭国中 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种低温光学系统能量集中度测试系统及方法，该系统包括：真空低温模拟设备：包括真空罐、真空平行光管和光学窗口，关罐后抽真空充液氮，为试验提供真空低温环境；光学系统：包含低温镜头、支撑结构、冷屏及工装底板和背景冷屏等产品和设备，含各产品和设备的热控实施设备；探测器组件：含探测器杜瓦组件、视频处理器及制冷机组件，并配套相应控制单位及数据采集设备；面源黑体及针孔靶标：置于真空罐外，提供了点目标的辐射信号等。本发明有效解决了低温下光学系统能量集中度测试问题，取得了方法合理、操作可行、简单方便、适应性强、可推广应用的有益效果。 | ||
| 搜索关键词： | 低温 光学系统 能量 集中 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种低温光学系统能量集中度测试系统，其特征在于，低温光学系统能量集中度测试系统包括：真空低温模拟设备：包括真空罐、真空平行光管和光学窗口，关罐后抽真空充液氮，为试验提供真空低温环境；光学系统：包含低温镜头、支撑结构、冷屏及工装底板与背景冷屏产品和设备，含各产品和设备的热控实施设备；探测器组件：含探测器杜瓦组件、视频处理器及制冷机组件，并配套相应控制单位及数据采集设备；面源黑体及针孔靶标：置于真空罐外，提供了点目标的辐射信号，通过平行光管准直进入真空罐低温光学镜头聚焦到探测器焦面上；多维调整台：对位置和方位进行微调，用于控制点目标信号落于探测器像元中心形成清晰像。
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