[发明专利]一种有效提升高频性能的氮化镓器件制作流程有效
申请号: | 201710868678.5 | 申请日: | 2017-09-22 |
公开(公告)号: | CN107644833B | 公开(公告)日: | 2019-12-03 |
发明(设计)人: | 大藤彻;吴俊鹏;谢明达;叶顺闵 | 申请(专利权)人: | 叶顺闵 |
主分类号: | H01L21/764 | 分类号: | H01L21/764;H01L29/20 |
代理公司: | 11530 北京华识知识产权代理有限公司 | 代理人: | 陈敏<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
地址: | 201204 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种有效提升高频性能的氮化镓器件制作流程,属于氮化镓制作领域。一种有效提升高频性能的氮化镓器件制作流程,包括如下步骤:A、按照传统的制程在镓化物基板上沉积第一道介电层、源极、闸极和汲极,接着沉积第二道介电层,然后在闸极处的第二道介电层的上方沉积源场板。它可以实现在闸极与源场板间创造空气间隙,空气是具有最小介电系数的材料,空气间隙可以减少闸极与源极之间的电容,以提升高频效能,提升最大的截止频率以及最大的震荡频率,且在制作氮化镓器件的过程中不需任何特殊复杂的制程,就可以在相同频率下达到高功率增益,或是在同样的功率增益下达到更高的操作频率,同时保有源场板的好处。 | ||
搜索关键词: | 一种 有效 提升 高频 性能 氮化 器件 制作 流程 | ||
【主权项】:
1.一种有效提升高频性能的氮化镓器件制作流程,其特征在于,包括如下步骤:/nA、按照传统的制程在镓化物基板(2)上沉积第一道介电层(6)、源极(1)、闸极(5)和汲极(3),接着沉积第二道介电层(7),然后在闸极(5)处的第二道介电层(7)的上方沉积源场板(4);/nB、步骤A完成后在第二道介电层(7)的上方叠上光阻(8),使得光阻(8)的高度高于闸极(5);/nC、光阻(8)凝固稳定后,利用干式等向蚀刻的方式蚀刻光阻(8),待蚀刻到闸极(5)上方恰好露出第二道介电层(7)时停止蚀刻;/nD、用湿式蚀刻的方式,把闸极(5)旁的第二道介电层(7)移除,确保围绕在闸极(5)旁和闸极(5)与源场板(4)之间的第二道介电层(7)被移除;/nE、利用湿式蚀刻的方式将第二介电层(7)上的光阻(8)全部去除;/nF、在源极(1)和汲极(3)叠上厚金属(9),最后在第二道介电层(7)、源场板(4)、源极(1)和厚金属(9)上沉积第三道介电层(11),在闸极(5)与源场板(4)间成型的第三道介电层(11)自然会封口,并自然形成的空气间隙(10),第三道介电层(11)成型,氮化镓器件制作完成。/n
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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