[发明专利]一种基于双PSD的多自由度测量装置有效
| 申请号： | 201710872861.2 | 申请日： | 2017-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN107702644B | 公开（公告）日： | 2020-03-03 |
| 发明（设计）人： | 王国名;劳达宝;周维虎 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电研究院 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 安丽 |
| 地址： | 100094*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于双PSD的多自由度测量装置，由双PSD测量光学系统和光电二维精密转台组成，双PSD测量光学系统自身可以测量目标的x、y和绕x、绕y四个自由度，同时两台装置联用可以扩展为目标6自由度相对测量。另外双PSD测量光学系统可以瞄准目标，配合光电二维转台实现目标的空间方位角和俯仰角的测量；而且，双PSD测量光学系统与光电二维转台还能够通过互瞄，实现两台装置的相互定位，从而完成基准与测量面相隔离(目标与基准相隔较远或不在同一平面)时的特殊情况测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 psd 自由度 测量 装置 | ||
【主权项】：
一种基于双PSD的多自由度测量装置，其特征在于：将双PSD测量光学系统与光电二维精密转台集成在一起，双PSD光学系统自身能够测量目标的x、y和绕x、绕y四个自由度，同时双PSD光学系统能够瞄准目标，配合光电二维转台实现目标的空间方位角和俯仰角的测量；而且两台仪器，即双PSD测量光学系统与光电二维转台还能够通过互瞄，实现两台仪器的定位，从而完成目标的6个自由度的同时测量。
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