[发明专利]傅里叶变换光谱仪光谱计算中的相位校正方法有效
| 申请号： | 201710876151.7 | 申请日： | 2017-09-25 |
| 公开（公告）号： | CN107990982B | 公开（公告）日： | 2019-11-22 |
| 发明（设计）人： | 郭玲玲;吴泽鹏;赵其昌;马文佳;杨勇 | 申请（专利权）人： | 上海卫星工程研究所 |
| 主分类号： | G01J3/45 | 分类号： | G01J3/45;G06F17/14 |
| 代理公司： | 31236 上海汉声知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郭国中<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种傅里叶变换光谱仪光谱计算中的相位校正方法，包括以下步骤：步骤一，获取干涉图序列x[n]，n＝0，1，…，N‑1的绝对值最大位置，记为M，M为整数；步骤二，对原始干涉图序列中M‑T～M+T范围内的点进行K倍样条插值，T为≥2的整数，K为≥5的整数，并获取插值后绝对值最大位置m作为干涉图零光程差位置，m为实数；步骤三，计算x[n]的FFT序列y[n]，n＝0，1，…，N‑1；步骤四，按照傅里叶变换的平移性质进行相位校正，计算相位校正后的光谱序列z[n]，n＝0，1，…，N/2‑1。本发明能够普遍适用且光谱计算精度高。 | ||
| 搜索关键词： | 傅里叶变换 光谱仪 光谱 计算 中的 相位 校正 方法 | ||
【主权项】：
1.一种傅里叶变换光谱仪光谱计算中的相位校正方法，其特征在于，包括以下步骤：/n步骤一，获取干涉图序列x[n]，n＝0，1，…，N-1的绝对值最大位置，记为M，M为整数；N表示干涉图序列长度，x表示干涉图序列的数值；/n步骤二，对原始干涉图序列中M-T～M+T范围内的点进行K倍样条插值，T为≥2的整数，K为≥5的整数，并获取插值后绝对值最大位置m作为干涉图零光程差位置，m为实数；T表示插值范围半长度，K表示插值倍数；/n步骤三，计算x[n]的FFT序列y[n]，n＝0，1，…，N-1；y表示傅里叶变换后的序列数值；/n步骤四，按照傅里叶变换的平移性质进行相位校正，计算相位校正后的光谱序列z[n]，n＝0，1，…，N/2-1，z表示光谱序列数值。/n
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