[发明专利]位置姿势推定方法和位置姿势推定系统有效
申请号: | 201710878675.X | 申请日: | 2017-09-26 |
公开(公告)号: | CN107869984B | 公开(公告)日: | 2020-08-11 |
发明(设计)人: | 泽田信治 | 申请(专利权)人: | 本田技研工业株式会社 |
主分类号: | G01C11/02 | 分类号: | G01C11/02;G01C3/02 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 黄纶伟;黄志坚 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供位置姿势推定方法和位置姿势推定系统。即使在对象物的一部分被其他物体遮挡时,也能够简易且高精度地推定该对象物在三维坐标系中的位置和姿势。可以根据通过具有与实空间的Z轴平行的光轴的拍摄装置而获取的工件W的各指标区域的尺寸,推定各指标点的Z坐标值。基于各指标点的Z坐标值,推定穿过构成一对指标点的指标直线的第1实空间姿势。通过使用照射装置对多个指标点中的第1指标点照射光线,形成并定义包括该第1指标点在内的第1指标区域。在拍摄装置的拍摄范围中,即使在工件W的一部分被其他物体遮挡时,通过以避开该其他物体的方式或者利用间隙的方式对该工件W的第1指标点照射光线,能够简单且切实地形成第1指标区域。 | ||
搜索关键词: | 位置 姿势 推定 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种位置姿势推定方法,其特征在于,包括:第1尺寸测定处理,通过拍摄装置获取对象物的拍摄图像,测定对象物中定义的多个指标区域各自在所述拍摄图像中的尺寸,所述拍摄装置在由XYZ坐标系定义的实空间中的位置以及姿势被固定、且具有相对于Z轴平行的光轴;纵实空间位置推定处理,基于所述第1尺寸测定处理中的测定结果,推定所述多个指标区域各自所包含的多个指标点各自的Z坐标值;第1实空间姿势推定处理,基于所述多个指标点各自的X坐标值和Y坐标值中的至少一者、以及所述多个指标点各自的Z坐标值的推定结果,将穿过所述多个指标点当中构成一对的指标点的指标直线在实空间中的姿势推定为第1实空间姿势;以及实空间姿势推定处理,基于所述第1实空间姿势的推定结果,推定所述对象物的实空间姿势,所述第1尺寸测定处理中,使用在所述实空间中的位置以及姿势被固定的照射装置,对所述多个指标点当中的第1指标点照射光线,由此形成第1指标区域作为所述多个指标区域当中的至少1个指标区域。
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