[发明专利]多片离线烧录测试治具及其使用方法在审

专利信息
申请号: 201710881870.8 申请日: 2017-09-26
公开(公告)号: CN107656192A 公开(公告)日: 2018-02-02
发明(设计)人: 李鹏;李作鹏;杨洁;梅得军;李晓华 申请(专利权)人: 上达电子(深圳)股份有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G06F9/445
代理公司: 北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙)11400 代理人: 许春兰,李彬彬
地址: 518104 广东省深圳市宝安区沙井街道黄*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开一种多片离线烧录测试治具及其使用方法,包括控制模块、烧录开关、多个烧录模块、测试开关、测试模块和显示模块,烧录开关与控制模块电连接,还分别与多个烧录模块(被提前写入烧录程序)电连接,烧录开关闭合后,控制模块生成烧录信号,将烧录信号发送给烧录模块,烧录模块接收烧录信号,烧录模块进行烧录。只需要将烧录开关闭合,使得烧录模块以及控制模块所在的电路为一闭合回路,测试开关闭合后,测试模块生成测试信号,测试模块发送测试信号给显示模块,显示模块即可显示当先烧录的情况,该离线测试治具不需要用到计算机等设备,成本低,同时烧录模块有多个,可以一次烧录多个,节省烧录时间,并且,由于烧录时间短。
搜索关键词: 离线 测试 及其 使用方法
【主权项】:
一种多片离线烧录测试治具,其特征在于,包括控制模块(1)、烧录开关(2)、多个烧录模块(3)、测试开关(4)、测试模块(5)和显示模块(6),所述烧录开关(2)分别与多个烧录模块(3)电连接,所述烧录开关(2)与控制模块(1)电连接,所述烧录模块(3)已被提前写入烧录程序,所述烧录开关(2)闭合后,所述控制模块(1)生成烧录信号,将所述烧录信号发送给所述烧录模块(3),所述烧录模块(3)接收所述烧录信号,所述烧录模块(3)进行烧录,所述测试开关(4)闭合后,所述测试模块(5)生成测试信号,所述测试模块(5)发送测试信号给显示模块(6),所述显示模块(6)显示当前测试信号对应的测试信息。
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